[测试工程] 芯片开短路测试｜Open-Short Test 详解 原创 二十五 日期：2026-07-23 22:15:14 点击：213 好评：0
开短路测试也叫连续性、接触测试，是芯片制程里基础且关键的检测工序。主要核验测试链路与芯片全部引脚电气接触状态，排查引脚互短、引脚碰电源 / 地等异常问题。 一、测试排查...
[测试工程] 开尔文四线检测原理与应用 日期：2026-07-23 21:08:00 点击：222 好评：0
精密测量技术：开尔文四线检测 开尔文四线检测，也叫四端子检测、四线检测、四点探针法，是以欧姆定律为基础的电阻抗测量方式。 测试核心原理 常规两线测量易受导线自身电阻干...
[测试工程] 芯片测试异常复盘知识库 日期：2026-07-22 20:13:00 点击：99 好评：0
面对异常，复盘不是追责大会，而是我们提升质量、优化流程的宝贵机会。下面我将以行业小白的视角，为你梳理一套事半功倍的异常复盘知识库，助你快速上手。 第一步：稳住阵脚，...
[测试工程] IC 测试的核心目的，一文讲透 日期：2026-07-20 22:53:26 点击：112 好评：0
IC 测试的核心目的，就是确保集成电路 功能、性能、可靠性 完全符合设计标准，筛选生产制造中的缺陷产品，同时提升量产效率与成品良率。 从维度来看，主要包含： 功能验证、性能...
[测试工程] 芯片量产的“质检员”：一文读懂ATE测试原理与 日期：2026-07-20 21:49:00 点击：99 好评：0
在芯片从设计、封装到量产的全流程中，测试是把控产品品质的 核心关键环节 。 一颗芯片能否正常工作、性能是否达标、长期使用是否稳定，都需要通过专业设备全方位检测。而 AT...
[测试工程] 数字半导体测试入门连载【第16期】ATE复测逻辑与 日期：2026-07-20 20:44:00 点击：191 好评：0
前言 在半导体量产测试中，绝大多数人聚焦于程序开发、良率优化、故障排查。但真正决定工厂质量底线、决定客户退货率、决定批次是否合规放行的，是一套极易被忽略的基础逻辑：...
[测试工程] 数字半导体测试入门连载【第15期】｜ATE工程师成 日期：2026-07-20 19:40:00 点击：215 好评：2
开篇：为什么有人做很久ATE，依旧没长进？ 从事ATE测试这么多年，我发现一个很有意思的现象：很多入行一两年的小伙伴，日常干活完全没问题，会跑程序、会改参数、也能调良率。...
[测试工程] 数字半导体测试入门连载【第14期】ATE量产故障排 日期：2026-07-17 20:46:00 点击：183 好评：0
开篇闲聊 做ATE测试的新手，大多有个通病： 一见产线报错就慌，遇到良率波动就乱猜。 明明上一秒产线还稳稳跑片，下一秒突然批量FAIL、随机报错、单工位掉良率，瞬间无从下手。...
[测试工程] 数字半导体测试入门连载【第13期】ATE程序标准化 日期：2026-07-17 19:43:00 点击：213 好评：0
开篇闲聊 很多新手工程师都有一个误区： 程序能跑、良率正常，就是好程序。 但真正做过量产的都知道： 能跑 稳定，能用 量产可用。 你是不是也遇到过这些离谱现场： 上次调试好...
[测试工程] 数字半导体测试入门连载【第 12 期】量产测试优 日期：2026-07-15 21:35:00 点击：152 好评：0
开篇闲聊 很多新手以为：芯片测试，只要 能测、能分出好坏 就够了。 但真正的芯片量产，核心就两件事： 测得足够快，保住产能；测得足够准，稳住良率。 产线所有成本、产能、报...
