 数字IP测试遇到SCAN Fail如何调试？o 案例背景 这周测试过一批数字芯片，室温和高温都pass，低温却有~5%的SCAN fail。Fail的芯片不连续，且通过rescreen可以回收部分芯片。 o 调试思路（供参考） 是否为温度影响？——取几颗低温失效的芯片，在室温复测。 1. 如果失效的芯片在室温fail，那么后续调试可以从室温开始。 2. 如果失效的芯片在室温pass，那么后续调试应在低温进行，且需确认低温的失效是否反复出现。同时可以缓慢升高温度（Step 10℃），观察失效芯片何时开始pass。 是否为频率影响？——降低向量运行的频率，观察是否有失效芯片开始pass。 1. 如果没有，尝试提高频率，观察失效芯片是否有更多fail；同时，可以增加少许pass的芯片同步观察，作为参考。 2. 如有，尝试更新SCAN向量中时钟的频率，观察测试结果是否有变化。 是否为电压影响？——改变数字IP电压域的电压（VDD），记录每个电压下SCAN的测试结果。 是否为时序影响？——改变SCAN IN/OUT的时序（Timing），记录每个时序下SCAN的测试结果。 是否为Site影响？——所有失效芯片在Site1 to SiteMax loop 10-30次，记录每次测试的结果。判断Site间是否有差异。 是否为Socket影响？——标记当前使用的Socket A, B, C, ... A = Site1, B = Site2, C = Site3, ... 1. 所有失效芯片在Site1, SocketA测试，并记录结果。 2. 所有失效芯片在Site2, SocketB测试，并记录结果。 3. 所有失效芯片在Site3, SocketA测试，并记录结果。 4. 所有失效芯片在Site1, SocketC测试，并记录结果。 5. 所有失效芯片在Site2, SocketB测试，并记录结果。 6. 所有失效芯片在Site3, SocketA测试，并记录结果。 .是否为Loadboard影响？——交换LB交叉验证。 o 如果Loadboard SCAN output pin上有电容，建议量取电容值是否正常。 .是否为Vector影响？——取几颗典型的失效芯片，通过示波器抓取Fail Cycle的波形，判断是ATE采样时序还是芯片逻辑的问题。 o 某些测试机可能支持启用外部触发功能。如果没有这个选项，可以通过在测试模式中添加一个未使用的数字引脚来创建触发信号：将该引脚保持为逻辑直到目标周期时再将"触发引脚"设置为1。 是否为ATE数字板卡影响？——交换板卡交叉验证。 是否为ATE测试机台影响？——交换机台交叉验证。 最后，如果你们实验室（Bench）也有SCAN测试环境的话，可以拉着实验室小伙伴们一起看看~毕竟ATE机时费太贵啦！ |
