[可靠性测试] 芯片可靠性要求及商规、工规、车规 日期：2023-05-19 10:02:46 点击：111 好评：0
在芯片的国产化浪潮下，国产芯片的出货量和替代率近年来迅速飙升。按出货量比率看，消费电子领域，电源管理芯片和射频前端芯片国产替代率已超过70%；工控通信领域，电源管理和...
[可靠性测试] 一文理解芯片可靠性测试项目 日期：2023-05-18 16:23:20 点击：128 好评：0
高温工作寿命（HTOL, High Temperature Operating Life） HTOL是一种常见的半导体器件可靠性测试方法，用于评估芯片在高温和电压条件下的长期稳定性和寿命。该测试通过在高温下加速芯片老化...
[可靠性测试] 激光器芯片的寿命可靠性问题 日期：2023-05-15 10:48:52 点击：179 好评：0
激光芯片的可靠性是一项十分关键的指标，无论是小功率的激光笔还是要求较高的激光通信芯片，都需要进行芯片的老化和可靠性的测试。 相比于传统的电子类的芯片，激光的测试比较...
/ictest (3)-1.png)
[可靠性测试] 从流程到方法，详解芯片老化测试 日期：2023-05-15 10:19:37 点击：127 好评：0
芯片老化测试是评估芯片可靠性的重要方法之一，它在设计、制造和维护芯片产品的生命周期中具有至关重要的作用。芯片老化测试是通过模拟芯片在长时间使用过程中受到的各种环境...
[可靠性测试] IGBT 可靠性与寿命评估研究 日期：2023-05-12 13:51:39 点击：205 好评：0
《汽车电器》 摘要 IGBT作为新能源汽车电机控制器的核心部件，直接决定了电动汽车的安全性和可靠性。本文主要介 绍采用热敏感电参数法提取IGBT结温，并结合CLTC等试验工况得出对应...
[可靠性测试] 老化验证和封装形式有关系吗？ESD测试与寄生电 日期：2023-05-11 13:43:26 点击：122 好评：0
以下题目来自芯片检测尖端技术线上研讨观众的踊跃提问，可靠性验证相关题目，请RA实验室主管Nily来为各位解答。 Q1 老化验证和封装形式有关系吗？ A: 无关，任何形式的封装，皆需...
[可靠性测试] HTOL硬件设计该有的考量 日期：2023-05-11 10:16:02 点击：71 好评：0
打造成功的芯片可靠性试验环境，准备合适的测试硬件为必要条件。蔚思博检测一站式芯片检测服务，提供专业的硬件设计与制造服务，设计团队拥有丰富的经验，为客户量身定制经济...
[可靠性测试] 什么是芯片老化测试？ 日期：2023-05-10 17:07:34 点击：171 好评：0
随着半导体电子技术的进步，老化测试已成为保证产品质量的关键流程。除了半导体元件外，PCB、IC 和处理器部件也都需要在老化条件下进行测试。本篇文章纳米软件Namisoft小编将带大...
[测试工程] ESD防护—三极管的应用 日期：2023-04-21 11:23:04 点击：255 好评：0
从最早的TTL工艺，到现阶段的BCD工艺，再到三代半导体工艺，Bipolar作为有源器件之一，同样具有优异的ESD防护潜力而本文主要聚焦于TTL/BCD工艺和部分CMOS工艺的片内ESD防护设计，片外...
[测试工程] ESD防护——二极管的应用（二） 日期：2023-03-14 14:42:23 点击：216 好评：0
这期继续讲解二极管在ESD防护中的应用。上期讲解了Polysilicon-Bound diode针对ESD防护的优势以及工作机理，这期继续分析，器件结构参数对其ESD性能的影响. 图一.Polysilicon-Bound diode结构参数...
