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  • [测试工程] 如何判断IC失效是由EOS还是ESD引起的? 日期:2022-05-17 20:05:33 点击:155 好评:2

    在电子器件组装过程中,EOS(Electrical Over Stress)与 ESD(Electrical Static Discharge)造成的集成电路失效约占现场失效器件总数的50%,且通常伴随较高不良率以及潜在可靠性问题,是产线一大杀...

  • [测试工程] 常见IGBT功率模块可靠性测试项目及测试方法 日期:2022-05-17 19:14:57 点击:150 好评:4

    IGBT功率模块的可靠性,是指器件在一定时间内、一定条件下无故障的运行的能力,是功率模块最重要的品质特性之一。 要满足现代技术和生产的需要,获得更高的经济效益,必须使用...

  • [测试工程] ESD Latch up测试简介 日期:2022-05-04 10:35:08 点击:129 好评:0

    本文详细讲解了ESD 和latch up测试的技术要点,敬请参考...

  • [可靠性测试] 芯片ESD的原理和测试介绍 日期:2022-05-03 21:14:10 点击:357 好评:8

    静电放电(ESD: Electrostatic Discharge),应该是造成所有电子元器件或集成电路系统造成过度电应力(EOS: Electrical Over Stress)破坏的主要元凶。因为静电通常瞬间电压非常高(几千伏),所以这种损...

  • [测试工程] 集成电路(IC)可靠性测试简介 日期:2022-04-25 18:52:55 点击:164 好评:2

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  • [测试工程] MIPI测试详解 日期:2022-04-20 14:03:29 点击:127 好评:2

    前言: 大家好,本期内容将聚焦于MIPI D-PHY测试,其中的内容汇集了诸位资深工程师的一手经验,摘要如下: 1. MIPI 简介 2. MIPID-PHY 技术概览 3. MIPID-PHY 物理层CTS测试 4. MIPID-PHY 实测难点...

  • [测试工程] 系统级测试(SLT)详解 日期:2022-04-18 14:38:07 点击:267 好评:4

    前言 在半导体晶体管尺寸越来越小、芯片功能日益复杂的趋势下,系统级测试(简称SLT)变得至关重要。那什么是SLT?SLT是如何帮助提高产品质量并缩短上市时间的?我们将从本文开始...

  • [测试工程] AEC Q100车用芯片可靠性测试标准详解 日期:2022-03-26 13:07:40 点击:182 好评:6

    AEC(Automotive Electronics Council)汽车电子委员会,由美国三大汽车公司(Chrysler / Ford / GM)联合发起,并于1994年创立,会员分布于全球车厂、汽车电子模组厂和元器件厂商。 AEC Q100是基于失...

  • [测试工程] 芯片测试之HTOL UHAST BHAST简介 日期:2021-05-12 14:23:00 点击:1129 好评:0

    芯片测试过程中,芯片可靠性是非常重要的一环,ESD和Latchup等可靠性测试时间比较短,表征只是瞬间的芯片性能,那么芯片长期运行性能表征要怎么测试呢? HTOL,uHAST,BHAST的测试就是...

  • [测试工程] 芯片测试之ESD详解 日期:2021-05-08 13:51:00 点击:111 好评:2

    在芯片测试过程中,ESD是一项非常关键的指标来表征芯片的可靠性。ESD在生活中随处可见,但在芯片测试中,将其归于几种模型,在保证其可靠性的同时,方便测试。 ESD测试归于两个大...

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