[可靠性测试] AEC-Q104认证：芯片模组的可靠性与质量标准 日期：2025-07-04 22:14:26 点击：118 好评：0
车用多芯片模块的可靠性测试标准 随着汽车电子技术的快速发展，车载系统的复杂性不断增加，尤其是电子控制部件、导航系统和多媒体设备等的广泛应用，使得多芯片模块（MCM）的可...
[可靠性测试] AEC-Q102 认证体系中的机械可靠性测试 日期：2025-07-04 19:14:00 点击：172 好评：0
在自动驾驶与电动化技术的驱动下，光电半导体器件（如激光雷达、车用 LED、光传感器等）已成为汽车感知环境的核心组件。 然而，车辆在行驶中面临的机械应力包括高频振动、路面...
[测试工程] 浅谈ATE PCIe 测试 --5 日期：2025-07-03 22:06:00 点击：78 好评：0
当PCIe技术以几何级数突破带宽极限，从Gen3一路奔袭至Gen6甚至更高，其测试复杂度也如同攀登陡峭的指数曲线。封装（Package）和ATE（自动测试设备）负载板（LoadBoard）作为芯片测试的...
[测试工程] IC信号与电源引脚对比解析 日期：2025-07-02 22:13:33 点击：217 好评：0
在芯片设计与测试领域，信号引脚和电源引脚是最核心的引脚类型，它们承载着芯片功能实现与稳定运行的关键职责。深入理解各类引脚的功能特性及其在电路中的作用，不仅有助于我...
[测试工程] 半导体 ATE 测试全流程简介 日期：2025-07-02 20:35:00 点击：164 好评：0
半导体测试的主要目的是确保交付给客户的芯片质量符合Datasheet(产品规格手册)的相关内容，ATE (Automated Test Equipment)是实现批量化自动半导体测试仪器的简称。 常见的消费类半导体ATE测...
[测试工程] 浅谈ATE PCIe 测试 --4 日期：2025-07-02 19:41:00 点击：128 好评：0
高速数字通信技术日新月异，传统NRZ（非归零码）已逐渐难以满足更高数据速率的需求，PAM4（四电平脉冲幅度调制）编码应运而生，成为PCIe 6.0+、DDR5、400G/800G以太网等新一代接口的关...
[测试工程] ATE唠唠嗑No.8——多级DAC测试 日期：2025-07-01 22:32:33 点击：199 好评：0
在测试多级DAC的积分非线性（INL）和微分非线性（DNL）时，通常不需要对所有代码进行全量测试，而是可以通过精心选择部分关键代码子集来完成验证。 举个栗子：一颗 16-bit 3-stage （...
[测试工程] ATE唠唠嗑No.9——多道ATE测试的Trim方案 日期：2025-07-01 22:13:45 点击：180 好评：0
ATE测试有时候会遇到某些产品的Trim需要多道测试（比如CP1/CP2, FT1/FT2等等）获取数据后，才能通过计算进行烧写EFuse的情况。今天分享一些与之相关的项目经验供大家参考。 【多道ATE...
[测试工程] ATE唠唠嗑No.10——多道ATE测试的Trim示例 日期：2025-07-01 21:00:00 点击：170 好评：0
接上一期的Trim方案，这期咱们唠唠实际案例以及代码如何实现。 ATE 文件存储示例代码 核心代码功能说明 1. DUT单文件存储方案 2. 晶圆/工位单文件存储方案 实践建议 1. 文件命名规范...
[测试工程] ATE SerDes 测试解析 日期：2025-06-26 21:58:43 点击：230 好评：0
在数字世界的高速公路上，SerDes(Serializer/De-serializer)如同隐形的数据特快列车，将庞杂的并行信号转化为高速串行流，驱动着PCIe, USB, Etherent, DDR等现代数字接口的运转。作为芯片间通信...
