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  • [测试机台] 低成本、高效率8site MOSFET 量产测试解决方案 日期:2017-09-27 17:55:15 点击:678 好评:28

    众所周知,近几年,国内集成电路的飞速发展,让国外友商们刮目相看,其中分立器件的发展并没有因为芯片的集成度越来越高而衰落,反而出现了越来越好的行情,究其原因在于大功...

  • [可靠性测试] IC产品的质量与可靠性测试 日期:2018-01-14 16:46:55 点击:102 好评:0

    质量(Quality)和可靠性(Reliability)在一定程度上可以说是IC产品的生命。质量(Quality)就是产品性能的测量,它回答了一个产品是否合乎规格(SPEC)的要求,是否符合各项性能指标的...

  • [开发经验] 电路板绘制经验 日期:2016-12-22 10:06:44 点击:290 好评:1

    一、印制板设计要求 1、正确 这是印制板设计最基本、最重要的要求,准确实现电原理图的连接关系,避免出现短路和断路这两个简单而致命的错误。这一基本要求在手工设计和用简单...

  • [优化经验] 集成电路里的大数据 – 浅谈芯片量产测试数据的 日期:2015-09-06 22:03:55 点击:1334 好评:6

    最近几年,大数据一直是个非常热门的话题。当人们津津乐道于互联网时代海量的数据能给我们带来如何的机会和价值的时候,很多作为集成电路行业的人士却常常会忽略了自己平时工...

  • [优化经验] 测试基础篇-Spike Check 日期:2015-09-05 15:47:17 点击:1104 好评:18

    什么叫Spike Check,就是检查输出的峰值电压(Voltage Peak Testing),以防止过压对IC造成损伤或损坏(通常称之为 EOS electrical overstress)。 如下图1所示,就是利用示波器抓到的某个管脚的波...

  • [测试开发工程] EEPROM的功能测试-基于I2C总线技术 日期:2015-09-05 15:05:47 点击:926 好评:1

    本文在分析了I2C总线的工作原理及其特点后,通过对台湾旭星公司生产的2Kbits的串行EEPROM芯片24LC02的功能部分测试实例分析,提出了I2C总线应用下的EEPROM的一般功能测试方法。 I 2 C(In...

  • [优化经验] 如何合理的减少测试时间(Test Time Reduction) 日期:2015-09-05 15:00:27 点击:874 好评:4

    减少测试时间可以提高生产效率,减少测试成本是作为测试工程师一项重要工作。测试不仅仅是把参数测出来测准确,还要用时越短越好。 那么如何合理的减少测试时间呢?下面针对...

  • [优化经验] 测试数据分析-常用分析方法 日期:2015-05-05 08:17:13 点击:1385 好评:45

    测试数据分析,对于无论是工厂还是设计公司,无论是晶圆厂还是封测厂,无论是CP还是FT,无论是PE还是TE,都是发现问题的一个重要手段。 但是目前国内专业的测试数据分析软件很少...

  • [优化经验] 数据会说话-怎么看直方图 日期:2015-05-05 08:12:10 点击:519 好评:29

    转载自 看我哒 www.kanwoda.com ,并提供原文链接地址: 数据会说话-怎么看直方图 由于工作需要,我们经常会接触到大量的测试数据,怎样从海量的测试数据中,找到我们想要的信息,或是...

  • [优化经验] Rdson测试的问题及分析 日期:2015-05-05 08:09:27 点击:1480 好评:23

    转载自 看我哒 www.kanwoda.com ,并提供原文链接地址: Rdson测试的问题及分析。 由于MOSFET在芯片的设计中具有尺寸小,应用中具有功耗低,负载能力强,功耗低,开关速度快等许多优点,...

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