在芯片的国产化浪潮下,国产芯片的出货量和替代率近年来迅速飙升。按出货量比率看,消费电子领域,电源管理芯片和射频前端芯片国产替代率已超过70%;工控通信领域,电源管理和...
高温工作寿命(HTOL, High Temperature Operating Life) HTOL是一种常见的半导体器件可靠性测试方法,用于评估芯片在高温和电压条件下的长期稳定性和寿命。该测试通过在高温下加速芯片老化...
激光芯片的可靠性是一项十分关键的指标,无论是小功率的激光笔还是要求较高的激光通信芯片,都需要进行芯片的老化和可靠性的测试。 相比于传统的电子类的芯片,激光的测试比较...
芯片老化测试是评估芯片可靠性的重要方法之一,它在设计、制造和维护芯片产品的生命周期中具有至关重要的作用。芯片老化测试是通过模拟芯片在长时间使用过程中受到的各种环境...
《汽车电器》 摘要 IGBT作为新能源汽车电机控制器的核心部件,直接决定了电动汽车的安全性和可靠性。本文主要介 绍采用热敏感电参数法提取IGBT结温,并结合CLTC等试验工况得出对应...
以下题目来自芯片检测尖端技术线上研讨观众的踊跃提问,可靠性验证相关题目,请RA实验室主管Nily来为各位解答。 Q1 老化验证和封装形式有关系吗? A: 无关,任何形式的封装,皆需...
打造成功的芯片可靠性试验环境,准备合适的测试硬件为必要条件。蔚思博检测一站式芯片检测服务,提供专业的硬件设计与制造服务,设计团队拥有丰富的经验,为客户量身定制经济...
随着半导体电子技术的进步,老化测试已成为保证产品质量的关键流程。除了半导体元件外,PCB、IC 和处理器部件也都需要在老化条件下进行测试。本篇文章纳米软件Namisoft小编将带大...
从最早的TTL工艺,到现阶段的BCD工艺,再到三代半导体工艺,Bipolar作为有源器件之一,同样具有优异的ESD防护潜力而本文主要聚焦于TTL/BCD工艺和部分CMOS工艺的片内ESD防护设计,片外...
这期继续讲解二极管在ESD防护中的应用。上期讲解了Polysilicon-Bound diode针对ESD防护的优势以及工作机理,这期继续分析,器件结构参数对其ESD性能的影响. 图一.Polysilicon-Bound diode结构参数...