[测试工程] 晶圆接受测试（WAT）：Vth测试解析 日期：2025-04-27 22:38:08 点击：80 好评：0
引言：WAT为什么要测Vth？ 在芯片制造的纳米世界里，阈值电压（Threshold Voltage, Vth）如同人体的血压值微小偏差即可导致系统性崩溃。作为晶圆接受测试（WAT）的核心指标之一，Vth直接...
[测试工程] 芯片测试中 ，与漏电相关的测试项有哪些？ 日期：2025-04-27 21:12:00 点击：125 好评：0
下面是关于芯片测试中与漏电相关的测试项的详细介绍，涵盖了测试原理、方法、参数以及应用背景。 1. 漏电现象的背景 1.1 漏电流的定义 漏电流是指在 器件非导通或静态状态下 ，由...
[测试工程] 芯片测试中的“Trim”项是什么？为什么需要进行 日期：2025-04-24 21:40:31 点击：228 好评：0
01. Trim 的定义 修调（Trim）是芯片制造后道环节的核心校准技术，通过物理或逻辑手段调整芯片内部结构，使其关键性能参数达到设计目标。在CP和FT阶段，工程师利用修调技术对因制造...
[可靠性测试] 可靠性验证标准AEC-Q102 日期：2025-04-24 19:22:00 点击：114 好评：0
AEC-Q102是汽车电子委员会（AEC）针对光电半导体元器件制定的国际可靠性验证标准，其核心目标是通过一系列严苛的测试确保器件在汽车极端环境下的长期稳定性和安全性。 对于半导体...
[测试工程] 2025年第三届上海新质生产力集成电路产教融合大 日期：2025-04-23 19:12:00 点击：209 好评：0
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[测试工程] AEC-Q100《汽车级应用中基于失效机理的集成电路应 日期：2025-04-22 22:44:09 点击：71 好评：0
一、新器件认证与变更器件认证 上期主要围绕AEC-Q100中的GROUP A~GROUP G的7组测试项目展开，对应的是标准文档表2的内容。 针对新器件的认证，AEC-Q100规定 ： 对于每个资格认证，供应商必...
[测试工程] AEC-Q100《汽车级应用中基于失效机理的集成电路应 日期：2025-04-22 21:27:00 点击：74 好评：0
AEC Q100针对每个测试项目都注释了其使用范围、破坏性或非破坏性的属性等，具体定义见Table2。 B:仅要求焊球表面贴装(BGA)器件。 C: 铜线器件的测试条件和样品大小应该按照AEC-Q006。 D...
[测试工程] 集成电路测试（二）——功能测试及码型格式 日期：2025-04-20 21:29:46 点击：150 好评：0
集成电路测试（二） 功能测试及码型格式 一、功能测试概念 功能测试用于验证IC是否能完成设计所预期的工作或功能。功能测试的基本过程是应用一有序或随机组合的测试图形，以电...
[测试工程] 集成电路测试（三）——基于V93000的交流参数测 日期：2025-04-20 20:11:00 点击：188 好评：0
在探索集成电路的奥秘中，机台V93000里的交流参数测试扮演着至关重要的角色。今天将带你深入了解如何通过测试方法，如搜索法，来测量器件的时序关系，确保它们在正确的时间点上...
[测试工程] 集成电路测试（四）——基于V93000的Digital Captu 日期：2025-04-20 19:06:00 点击：110 好评：0
1、 概念 数字捕获（Digital Capture）是爱德万V93K的SmarTest软件中一项关键功能，其核心在于以高数据速率捕捉设备大量不可预测的数字输出，并将这些数据存储以供后续分析与处理。在实...
