[测试实例] 芯片中MOS是如何测试的？（3） 日期：2025-06-05 22:13:12 点击：195 好评：0
这篇文章我们来介绍一下芯片中的 CMOS的关键参数 是怎么测试的，首先是MOS的 栅极氧化层 的测试。 MOS晶体管栅氧化层完整性（GOI）的测试结构是多晶硅栅-氧化层-PW衬底（NMOS栅氧化层...
[测试实例] 芯片中电容和二极管如何测试？ 日期：2025-06-05 20:21:00 点击：186 好评：0
1.二极管的测试 二极管作为集成电路chip中重要的功能部分，对于n型二极管，它是两端器件，它的两个端口阴极（n型有源区）和阳极（PW）分别连到PAD_N和PAD_P。对于p型二极管，它是二端...
[测试实例] 芯片中电阻如何测试的？ 日期：2025-06-05 19:45:00 点击：110 好评：2
电阻的测试分为 方块电阻和接触电阻 ，方块电阻是电路设计的重要组成部分，其阻值准确性严重影响电路的性能，Fab厂通过WAT参数方块电阻Rs监测它们。CMOS工艺中方块电阻主要类型有...
[测试实例] 三点弯折测试 3PB-test 日期：2025-05-23 19:28:00 点击：79 好评：0
随着电子产品的不断发展和升级，半导体芯片的应用越来越广泛，而半导体芯片的可靠性也受到越来越多的关注。芯片三点弯折测试是对半导体芯片的机械性能进行评估的重要方法之一...
[测试实例] Test Key是什么？ 日期：2025-05-22 20:22:00 点击：191 好评：0
在半导体制造中，Test Key是用于监控工艺质量和电性参数的关键工具。以下是其核心要点： 1. 定义与作用 - 定义： Test Key是晶圆上设计的特殊图形或结构，位于芯片之间的切割道（Scr...
[测试实例] AEC-Q100《汽车级应用中基于失效机理的集成电路应 日期：2025-04-15 19:10:00 点击：177 好评：0
AEC是Automotive Electronics Council汽车电子协会的简称，AEC-Q则是汽车电子协会制定的一系列电子元器件质量标准和规范，旨在确保汽车电子产品在极端环境下的可靠性和稳定性。 AEC-Q包括多...
[测试实例] 芯片测试中的黑科技：Metal/Poly Trim如何让芯片“ 日期：2025-04-09 19:08:00 点击：275 好评：2
在半导体行业，每一颗芯片从晶圆到成品的旅程中，都需经历一场名为Trim的精密手术。而这场手术的核心工具，正是被称为 Metal/Poly Trim 的技术，一般也称作e-Fuse技术。它如同芯片的微...
[测试实例] Burn-in测试如何破解产品“早夭”？ 日期：2025-03-27 22:31:40 点击：286 好评：2
在芯片制造过程中，如何确保产品在交付客户后能够长期稳定运行，是每一个芯片设计公司和制造商面临的重大挑战。尤其是那些早夭产品即在早期使用阶段就出现故障的芯片，不仅会...
[测试实例] CP磁测试激励：推动晶圆磁测试技术创新 日期：2025-03-27 21:18:00 点击：208 好评：0
在半导体行业，随着技术的飞速发展，芯片的尺寸不断缩小、功能日益复杂，传统的测试方法逐渐无法满足日益增长的高精度、高效率需求。为此，新的测试技术应运而生，其中 CP磁测...
[测试实例] 基于车规数据分析技术，DPAT、NNR与GDBN 日期：2025-03-27 20:04:00 点击：469 好评：0
随着汽车电子系统的快速发展，特别是自动驾驶和智能网联汽车技术的应用，车规级电子设备的质量控制和测试技术越来越重要。在测试过程中， 动态部件平均测试 （DPAT）、 临近残差...
