[测试理论] AEC-Q100《汽车级应用中基于失效机理的集成电路应 日期：2025-04-15 21:35:00 点击：180 好评：0
AEC Q100针对每个测试项目都注释了其使用范围、破坏性或非破坏性的属性等，具体定义见Table2。 B:仅要求焊球表面贴装(BGA)器件。 C: 铜线器件的测试条件和样品大小应该按照AEC-Q006。 D...
[测试理论] 芯片测试中，BSCAN和SCAN有什么区别？ 日期：2025-04-14 21:53:15 点击：215 好评：0
前面文章我们介绍了芯片测试中SCAN的介绍： CP测试中的Scan测试介绍 ，那么，什么是Bscan呢？两者之间有什么区别呢？这篇文章带你一探究竟！ Bscan（Boundary Scan， 边界扫描 ）是一种用...
[测试理论] 半导体封装测试介绍 日期：2025-03-31 21:56:33 点击：230 好评：2
封装测试的定义与重要性 半导体封装测试（Package Test）是芯片制造流程中不可或缺的环节，指在封装完成后对芯片进行功能和性能验证的过程。虽然晶圆测试（CP）已筛选出良品，但封...
[测试理论] GRR（测量系统重复性再现性）分析的三种方法介 日期：2025-03-27 19:50:00 点击：285 好评：0
工业上经常用GRR分析进行测量系统分析，GRR分析是测量系统重复性和再现性分析的总称。 重复性 （Repeatability）是指在尽可能相同的测量条件下，同一测量人员对同一测量对象进行多次...
[测试设备原理] V93000学习入门(11) 日期：2025-03-19 20:56:00 点击：227 好评：0
在使用V93K测试设备进行芯片测试时，整个测试流程可以分为以下八个关键步骤： 1. Test Plan（测试计划）：首先明确测试目标，规划需要验证的功能和性能指标，包括功能测试、扫描测...
[测试设备原理] V93000学习入门(13) 日期：2025-03-19 19:31:00 点击：173 好评：0
V93K FlexDC API是用于在V93K测试平台上生成直流（DC）测试程序的接口，以实现高效的并行测试和多站点（multi-site）测量。 本文目录 oPin Scale测试系统 oSPMU_TASK API oDPS_TASK API oFlexDC APIs 1. P...
[测试理论] AEC-Q102标准：汽车电子散热性能的热阻测试指南 日期：2025-02-24 16:09:00 点击：233 好评：0
在汽车电子领域，随着电子设备在车辆中的广泛应用，对电子器件的性能和可靠性要求也日益严格。 AEC-Q102标准作为汽车电子委员会（Automotive Electronics Council）制定的一项重要测试标准...
[测试理论] 三防涂覆对印制电路射频性能影响探究 日期：2025-02-11 13:46:03 点击：125 好评：0
在印制电聽面进行的三防涂覆是一种广泛应用的防潮、防霉、防盐雾的工艺措施，但这种措施较少应用在工作于高频段的印制电路上。通过理论分析、仿真建模、样件试验等手段，探讨...
[测试理论] ATE测试概述 日期：2025-01-20 18:44:00 点击：444 好评：4
半导体行业的三种主要业务模式：IDM（Integrated Device Manufacturer，集成器件制造商）、Fabless（无工厂半导体设计公司）、Foundry（晶圆代工厂）以及OSAT（Outsourced Semiconductor Assembly and Test，...
[测试理论] X-RAY与SAT检测原理—为什么X-RAY只能扫描空洞不 日期：2025-01-16 16:09:24 点击：342 好评：0
前面写分层文章时，有个问题一直困扰着我：为什么X-RAY只能扫描空洞，不能用来扫描分层。不过，虽然咱不会，但咱也绝对不问，就这么浑浑噩噩的度过了一个月，终于忍不住了，打...
