 前面文章我们介绍了芯片测试中SCAN的介绍：CP测试中的Scan测试介绍，那么，什么是Bscan呢？两者之间有什么区别呢？这篇文章带你一探究竟！Bscan（Boundary Scan，边界扫描）是一种用于芯片测试和调试的技术，主要用于检测和诊断芯片内部或PCB（印刷电路板）上的互连故障。它是JTAG（Joint Test Action Group, IEEE 1149.1）标准的一部分，广泛用于数字电路的测试、调试和故障分析。 1.Bscan的基本原理 Bscan技术通过在芯片的I/O引脚周围添加边界扫描单元（Boundary Scan Cells），形成一个可控的数据通道。它的工作流程如下： （1）测试访问端口（TAP，Test Access Port）：芯片内部包含一个TAP控制器，允许外部设备通过JTAG接口访问芯片。 （2）边界扫描寄存器（Boundary Scan Register）：每个I/O引脚对应一个寄存器单元，用于存储和传输测试数据。 （3）扫描链（Scan Chain）：多个Bscan单元连接成串行链路，使测试数据可以逐步传输和分析。 （4）模式选择： · 旁路模式（Bypass）：允许信号正常传输，不影响芯片功能。 · 测试模式（Test Mode）：激活Bscan单元，使其能够捕获、存储和转发数据，进行测试。 2.Bscan的主要应用 · PCB板测试：检测焊接不良、短路、开路等连接问题。 · 芯片级测试：对SoC、FPGA等芯片进行内部连接性检查。 · 系统调试（In-System Debugging）：用于软件开发中的调试，如调试CPU、存储器等外设。 · IC老化测试（Burn-in Test）：在高温或长时间运行后检查芯片可靠性。 3.Bscan在半导体测试中的作用 在芯片的CP（晶圆测试）和FT（成品测试）阶段，Bscan可用于： · 发现封装后芯片的I/O互连问题，提高测试覆盖率。 · 结合ATE（自动测试设备）进行结构级测试，提高测试效率。 · 作为调试手段，分析复杂的功能失效。 Bscan的优势在于无需物理探针即可进行电气测试，适用于现代高密度PCB和复杂芯片结构，在芯片制造、组装及系统级测试中具有重要作用。 4.Bscan和 Scan区别 Bscan（Boundary Scan）和 Scan（Scan Chain，扫描链）是两种用于芯片测试的技术，它们在应用场景、实现方式和测试目的上有所不同。 （1）定义与基本区别
（2）形象理解 · Bscan = 外部互连测试（I/O 级别） → 检查芯片外部和 PCB 的连接是否正常。 · Scan = 内部逻辑测试（门级/寄存器级） → 检查芯片内部逻辑是否正常。 在芯片测试流程中，Bscan 主要用于 I/O 互连测试，而 Scan 主要用于 ATPG 逻辑测试，两者可以结合使用，以提升芯片的测试覆盖率。 |
