[测试基础理论] ATE测试解惑：低温低压到底是不是最坏测试工况 日期：2026-08-12 21:32:33 点击：161 好评：0
做过芯片ATE量产测试的朋友基本都有同感：芯片的大部分功能性失效、测试良率波动、临界报错，很少出现在高温高压的常规可靠性测试场景里，反而大多集中在低温、低压的组合测试...
[测试基础理论] 芯片 FA 失效分析：制程 & 测试工程师的良率破局 日期：2026-07-12 15:37:24 点击：358 好评：0
导语 半导体封装测试是芯片量产落地的最后一道关口，产线批量不良、可靠性老化失效、客户端退货偶发故障层出不穷，调机、改工艺、优化测试程序反复试错却找不到根源。 芯片测...
[测试基础理论] 探针卡接触电阻到底怎么测？——产线上最值钱 日期：2026-06-28 21:58:15 点击：314 好评：0
晶圆探针测试中，探针卡接触电阻是判断探针健康的核心指标。传统的两线法根本测不准，寄生电阻比信号本身还大。四线开尔文测量是产线标准做法，但参数设不对、校准没做、针没...
[测试基础理论] V93000-SmarTest 8 Basic User Training Lab Manual Version 8.6 日期：2026-06-28 12:01:12 点击：286 好评：0
接上一篇2026.5.12 Lab 18 Summary What you have learnt Howtoconfigureandrunshmoo. Howtoanalyzeresultsofashmooexecution. Howtotransferashmoosetuptoatestflow. SmarTestprovidesseveralkeyboardshortcutsforstandardprocedureslikeswitchingtheper...
[测试基础理论] TS 测试机保养指导 日期：2026-06-28 11:19:27 点击：142 好评：0
TS 测试机保养指导 1.1指导使用V93K测试机保养操作 1范围 适用本公司目前V93K测试机 职责 1.1工程设备部负责制定该文件 1.2测试操作员必须按照此规范执行 2安全 4.1所有测试机必须接地线...
[测试基础理论] TS 测试机操作指导书 日期：2026-06-28 10:56:28 点击：184 好评：0
TS 测试机操作指导书 1目的 1.1指导使用V93K测试机安装测试软件的操作 2范围 适用本公司目前V93K测试机 3职责 3.1工程设备部负责制定该文件 3.2测试操作员必须按照此规范执行 4安全 4.1所...
[测试基础理论] 测试向量长什么样？写给芯片的功能测试说明书 日期：2026-05-07 22:24:09 点击：415 好评：2
功能测试怎么做？简单说就是：给芯片一系列输入信号，看输出对不对。 输入和输出的组合，就是测试向量 。 今天聊聊向量的基本概念、常见格式，以及新人常遇到的坑。 01 什么是测...
[测试基础理论] 测试数据乱成一锅粥？先规范一下你的Datalog格式 日期：2026-05-07 21:52:48 点击：209 好评：0
芯片测完了，良率也算了，报告也出了。然后呢？ 三个月后客户投诉，你需要回头查那颗芯片当时的测试数据。打开文件夹，一堆.log、.txt、.csv，文件名是test1outputresult，根本不知道哪...
[测试基础理论] 浅谈SiC功率器件短路测试方法和原理 日期：2025-12-08 22:16:24 点击：309 好评：0
1.概述 SiC功率器件凭借其耐高压、耐高温、开关速度快等特点，在众多电力电子产品应用中展现出独特的优势。然而在实际应用中，出现短路问题是不可避免的。由于SiC器件面积小、短...
[测试基础理论] I2C 通信协议问答集锦 for 学习自检 --Part2 日期：2025-09-24 20:20:33 点击：274 好评：0
1. I2C通信的基本原理是什么？ A: I2C采用主从式通信机制。主设备发起并控制通信，从设备响应主设备的请求。 2. I2C通信有哪些关键特性？ A: 支持多主多从架构；仅需两条通信线；支持...
