[测试理论] 关于I2C总线上拉电阻的一点探讨 日期：2022-06-05 12:40:37 点击：412 好评：0
在一些PCB的layout中，大家往往会看到在I2C通信的接口处，往往会接入一个4.7K的电阻，有的datasheet上面明确有要求，需要接入，有的则没有要求。 I2C总线接口电路 对于单片机来讲，有些...
[测试理论] MOSFET的SOA或者ASO是什么？ 日期：2022-06-05 12:25:12 点击：574 好评：-2
SafeOperating Area（SOA） 有的厂家将他称之为 Area of Safe Operation (ASO) 安全工作区：SOA(Safe operating area)是由一系列(电压，电流)坐标点形成的一个二维区域，开关器件正常工作时的电压和电流...
[测试理论] RF 芯片测试的一些简单知识 日期：2022-05-04 11:15:18 点击：336 好评：15
PA 是进入射频测试的基础，也是比较经典的产品，市场空间比较大。楼主刚涉足这个领域，所以最近一段时间一直在研究PA类型的产品测试。 射频领域的书籍很多，但是射频芯片测试书...
[测试理论] 详解IGBT原理，参数及应用技术 日期：2022-05-04 09:07:48 点击：458 好评：2
前言 01 大家好，本文 主要介绍了大功率IGBT模块应用中的一些技术，包括参数解读、器件选型、驱动技术、保护方法以及失效分析等，内容相对浅显易懂，比较适合初学者！ 图片来源于...
[测试理论] 详解 DFT 之 IBIST 日期：2022-04-22 15:04:40 点击：1503 好评：12
LBIST 是一种内置自测 (BIST) 形式，其中芯片内部的逻辑可以在芯片本身上进行测试，而无需任何昂贵的自动测试设备 (ATE)。BIST 引擎内置于芯片内部，只需要像测试访问端口 (TAP) 这样的访...
[测试理论] 详解DFT之SCAN TEST 日期：2022-04-22 14:52:38 点击：1612 好评：0
什么是boundaryscan 边界扫描是一种测试技术，其设计的器件在每个器件引脚和内部逻辑之间放置了移位寄存器，如图 1 所示。每个移位寄存器称为边界扫描单元。这些边界扫描单元允许您...
[测试理论] 详解芯片测试之DFT 日期：2022-04-22 14:38:17 点击：2518 好评：6
dft 是什么 可测试性设计（Design for Testability）是一种集成电路设计技术。它是一种将特殊结构在设计阶段植入电路的方法，以便生产完成后进行测试，确保检测过后的电子组件没有功能...
[测试理论] 简单聊聊芯片DFT测试之ATPG 日期：2022-04-22 13:37:26 点击：1645 好评：6
Test pattern generation (TPG) 是为给定故障模型生成test pattern的过程。如果我们通过详尽的测试，在最坏的情况下，我们可能需要 2n 个（其中 n 代表input的数量）分配来找到single stuck-at fault的...
[测试理论] 芯片测试科普 日期：2022-04-21 17:33:38 点击：4225 好评：43
作为一个芯片设计公司（fabless）,我们也非常关注集成电路产业链的各个环节，以此更好地给客户提供价值。 这次我们给大家说说芯片测试相关。 1、 测试在芯片产业价值链上的位置 如...
[测试理论] 50Ω阻抗问题详解及射频电路设计中的阻抗匹配问 日期：2022-04-20 14:27:03 点击：315 好评：8
为什么很多射频系统或者部件中，很多时候都是用50欧姆的阻抗。有时候这个值甚至就是PCB板的缺省值，为什么不是60或者是70欧姆呢？这个数值是怎么确定下来的，背后有什么意义？本...
