[芯片制造] 芯测之声（第六期） 日期：2025-11-18 19:13:00 点击：117 好评：0
数字芯片测试全流程解析 一.测试前准备 1.了解测试机及如何操作 2.了解所测芯片的芯片手册 二.测试要求 1.明确测试项目 2.编写测试向量表 3.画PCB板,进行硬件测试 三.芯片测试是确保产...
[芯片制造] 芯测之声（第七期） 日期：2025-11-18 17:06:00 点击：55 好评：0
芯片测试四大核心技术解析！连接性 / 功能 / 钳位电压 / 漏电流原理大揭秘 芯片从设计到量产，测试是保障品质的关键环节。其中连接性、功能、输入钳位电压和漏电流测试，堪称芯片...
[芯片制造] 一文看懂AI SoC芯片 日期：2025-11-17 18:17:40 点击：198 好评：0
什么是SoC？ 作为智能手机、汽车电子、人工智能、工业控制等领域的大脑，SoC (System on Chip, 片上系统) 是一种将计算核心、存储系统、通信接口以及各种外设集成到一个单一芯片上的高...
[芯片制造] 芯片失效分析原理及步骤 日期：2025-11-13 21:24:11 点击：197 好评：0
失效分析近年开始从军工向普通企业普及。它一般根据失效模式和现象，通过分析和验证，模拟重现失效的现象，找出失效的原因，挖掘出失效的机理的活动。在提高产品质量，技术开...
[芯片制造] 失效分析的概念、主要步骤及解决方案 日期：2025-11-13 20:20:00 点击：167 好评：0
失效分析是一门发展中的新兴学科，近年开始从军工向普通企业普及。它一般根据失效模式和现象，通过分析和验证，模拟重现失效的现象，找出失效的原因，挖掘出失效的机理的活动...
[芯片制造] 集成电路失效分析步骤 日期：2025-11-13 19:09:00 点击：185 好评：0
1. 开封前检查，外观检查，X光检查，扫描声学显微镜检查。 2. 开封显微镜检查。 3. 电性能分析，缺陷定位技术、电路分析及微探针分析。 4. 物理分析，剥层、聚焦离子束(FIB)，扫描电...
[芯片制造] 芯片故障分析流程-failure analysis flow 日期：2025-11-13 18:44:00 点击：162 好评：0
1. 芯片故障分析流程： 01.接收故障件并收集相关失效信息。 02.Level-1: 非破坏性实验，如目检，X-ray等。 03.Level-2：电气故障分析，尝试复现失效模式。如Open/Short，Decap，EMMI/InGaAs，OBIR...
[芯片制造] 关于芯片设计的一些基本知识 日期：2025-11-12 20:09:00 点击：72 好评：0
引言：之前给大家介绍了芯片的制造和封装。今天这篇，我们来看看芯片的设计。 █ 芯片的设计理念 众所周知，芯片拥有极为复杂的结构。 以英伟达的B200芯片为例，在巴掌大的面积...
[芯片制造] 一文看懂芯片的设计流程 日期：2025-11-12 19:13:00 点击：100 好评：0
引言：前段时间给大家做了芯片设计的知识铺垫（ 关于芯片设计的一些基本知识 ），今天这篇，我们正式介绍芯片设计的具体流程。 芯片分为数字芯片、模拟芯片、数模混合芯片等多...
[相关技术] MOS器件电性参数Vt详解 日期：2025-11-10 20:50:20 点击：119 好评：0
在半导体器件中， Threshold Voltage（阈值电压，通常记为VT） 是 MOSFET（金属氧化物半导体场效应晶体管）的核心参数之一，用于定义器件从 关态（截止状态）切换到 开态（导通状态）的...
