[测试基础理论] 半导体老化测试重要性及测试方式和相关优缺点 日期：2023-02-16 10:22:53 点击：831 好评：2
老化测试的影响 在老化测试中，芯片、PCB 或半导体器件在升高的温度、电压和功率循环条件下进行测试。该测试通过强制其在监控电路下，经历各种苛刻的老化测试条件来加速设备中...
[测试基础理论] ICT测试原理 日期：2023-02-14 10:55:16 点击：707 好评：0
ICT在线测试机(IN CIRCUIT TESTER)是经由量测电路板上所有零件,包括电阻、电容、电感、二极体、电晶体、FET、SCR、LED 和IC等, 检测出电路板产品的各种缺点诸如 : 线路短路、断路、缺件、错...
[测试基础理论] 测试工程师必须掌握的5种三极管电路分析方法 日期：2023-02-02 11:36:07 点击：490 好评：4
三极管有静态和动态两种工作状态。未加信号时三极管的直流工作状态称为静态，此时各极电流称为静态电流，给三极管加入交流信号之后的工作电流称为动态工作电流，这时三极管是...
[测试基础理论] 做EMC整改，都被一些不起眼的“小细节”坑过、 日期：2023-01-31 15:53:49 点击：353 好评：0
细节注定成败！这句话用在EMC领域真的十分贴切，做过EMC整改的工程师或多或少的都被一些不起眼的小细节坑过与折磨过！ 案例一：藕断丝连，死灰复燃 某带GPS模块的车载电子产品，...
[测试基础理论] LDO基础知识 日期：2022-12-07 14:21:59 点击：1068 好评：0
1、当输入电压与目标输出电压压差不满足Vdropout，会发生什么？ 2、决定Vdropout电压大小的因素是什么？ 3、芯片选定后，Vdropout电压就是固定的吗？与电压，电流是否有关？ 4、温度，直流电...
[测试基础理论] EMC基础知识 日期：2022-12-06 16:44:14 点击：516 好评：2
EMC基础知识 射频工程师的日常 2022-10-19 06:00发表于江苏 副标题 副标题...
[测试工程] WAT测试与数据 日期：2022-07-30 17:10:19 点击：3283 好评：8
WAT的目的是通过测试晶圆上特定测试结构的电性参数，检测每片晶圆产品的工艺情况，评估半导体制造过程的质量和稳定性，判断晶圆产品是否符合该工艺技术平台的电性规格要求。WAT数据可以...
[测试理论] 通俗易懂的I2C协议 日期：2022-07-23 12:55:27 点击：848 好评：10
I2C总线是一种简单、双向二线制同步串行总线。 I2C通讯协议因其引脚少，硬件实现简单，可扩展性强，不需要USART、CAN等通讯协议的外部收发设备等优点，被广泛地使用在系统内多个集...
[测试理论] 晶圆允收测试技术详解-WAT PCM参数 日期：2022-07-23 10:46:12 点击：5508 好评：20
晶圆允收测试，也叫WAT（wafer acceptance test），或者叫PCM参数测试，通常在晶圆在完成加工后，对晶圆上的各种结构进行的电性测试，主要测试耐压，漏电，电阻，电容等参数，通过WAT数...
[测试理论] BUCK-BOOST负电压产生原理 日期：2022-06-05 12:46:37 点击：661 好评：4
在电路系统中，负电压的应用远没有正电压多，因此是很多人忽略的一个电源架构，很多同学经常就会问，怎么产生负电压？...
