[测试理论] 详解WAT（晶圆接受测试，Wafer Acceptance Test） 日期：2022-03-30 15:40:14 点击：1132 好评：4
以前做业务的时候，经常问同事，集成电路的工程师到底关注晶圆或者器件的什么性质，哪些性质是通过实验设备测得的，哪些可以是通过模拟仿真获得的。同事就说去看WAT或者集成电...
[相关技术] C语言入门基础二 日期：2022-03-24 20:56:49 点击：384 好评：9
格式化输出语句 格式化输出语句，也可以说是 占位输出 ，是将各种类型的数据按照 格式化后的类型及指定的位置 从计算机上显示。 其格式为：printf(输出格式符，输出项); 当输出语句...
[测试基础理论] LDO的PSRR参数的几种测量方法 日期：2021-07-15 18:38:03 点击：1428 好评：16
LDO的PSRR参数是Power Supply Rejection Ratio的缩写，即电源纹波抑制比。它是指输入纹波与输出纹波的比值，通常是以对数形式表示。 PSRR=20*log[Ripple(VIN)/Ripple(VOUT)] 单位为分贝(dB)。例如，PSR...
[测试基础理论] 集成电路芯片测试小结 日期：2018-06-14 09:41:22 点击：9460 好评：195
半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆制造和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容...
[测试基础理论] 什么是拉电流 、灌电流、吸收电流 ? 日期：2018-06-13 09:20:39 点击：3230 好评：119
拉电流和灌电流是衡量电路输出驱动能力（注意：拉、灌都是对输出端而言的，所以是驱动能力）的参数，这种说法一般用在数字电路中。 这里首先要说明，芯片手册中的拉、灌电流是...
[测试基础理论] DFT，可测试性设计--概念理解 日期：2018-05-11 10:29:23 点击：3009 好评：126
工程会接触DFT。需要了解DFT知识，但不需要深入。 三种基本的测试（概念来自参考文档）： 1. 边界扫描测试；boundary scan test。测试目标是IO-PAD，利用jtag接口互连以方便测试。（jtag接口...
[测试基础理论] 工程师必须搞清DCDC和LDO的区别 日期：2018-05-09 10:28:52 点击：3025 好评：154
LDO：LOW DROPOUT VOLTAGE LDO（是low dropout voltage regulator的缩写,整流器） 低压差线性稳压器，故名思意，为线性的稳压器，仅能使用在降压应用中。也就是输出电压必需小于输入电压。 优点：...
[测试基础理论] 射频测试基础——网络分析与网络分析仪 日期：2018-05-07 10:56:32 点击：1950 好评：77
若干电气元件相互连接形成的系统叫做网络。网络可以作为电路的代名词，网络分析就是电路分析，只是平常很少这样说，由此增添了几分神秘色彩。到了射频通信领域，可以把任何具...
[测试基础理论] 集成电路中的测试概述（一） 日期：2018-05-03 10:00:57 点击：2297 好评：134
这篇文章主要讲一下芯片设计中测试环节以及相关的概念。芯片设计中的测试分为以下几类： 1）验证：在芯片量产之前，验证设计是否正确和符合规范。在验证时，主要进行功能测试...
[测试基础理论] ADC的动与静 日期：2018-04-26 10:39:39 点击：2119 好评：98
我们经常发现，同样一块load board，测出来的ADC的SNR似乎总是不如DAC的好。但是从routing上，又看不出太大的差异。无论是电源、地的设计，还是信号的shield，relay的选择，基本都一样。从...
