[测试实例] 芯片不能穷测试 日期：2025-03-25 22:26:46 点击：303 好评：2
做一款芯片最基本的环节是设计-流片-封装-测试，芯片成本构成一般为人力成本20%，流片40%，封装35%，测试5%【对于先进工艺，流片成本可能超过60%】。 测试其实是芯片各个环节中最便...
[测试实例] 一文带你了解DFT测试 日期：2025-03-25 21:16:00 点击：229 好评：-2
芯片的 DFT（Design for Test 可测性设计） 测试是指在芯片设计过程中，采用一系列技术和方法，使得芯片在制造后可以有效地进行测试，从而保证芯片的质量和可靠性。DFT的目的是通过优...
[测试实例] 芯片测试中，OS和LDO的区别 日期：2025-03-25 19:05:00 点击：309 好评：0
在芯片测试中，Open/Short测试和LDO（Low Dropout Regulator，低压差线性稳压器）测试是两个不同的测试项目，它们的目的和测试内容有所不同。 Open/Short测试： 也称为连通性测试或短路/开路...
[测试实例] CP测试中的Scan测试介绍 日期：2025-03-24 22:14:00 点击：353 好评：0
1. Scan测试概述 Scan测试（扫描测试） 是一种用于检测芯片数字逻辑部分制造缺陷的方法。它基于扫描链（Scan Chain）技术，将芯片内部的寄存器连接成一条或多条串行链，利用这些链路...
[测试实例] 芯片测试中ADC的工作原理 日期：2025-03-24 21:50:22 点击：280 好评：0
前面我们详细介绍了DAC工作原理， DAC（数模转换器）原理大揭秘 ，那么ADC是什么呢？模数转换器（ADC，Analog-to-Digital Converter）的主要功能是将模拟信号转换为数字信号，方便后续的数...
[测试实例] 芯片测试中的数字逻辑测试原理 日期：2025-03-24 20:44:00 点击：258 好评：0
芯片测试（IC Testing） 是芯片制造过程中至关重要的环节之一，旨在验证芯片是否符合设计规格、功能是否正确，并筛选出不合格芯片。数字逻辑测试（Digital Logic Testing）主要用于检测...
[射频RF系列] 【PPT】射频基础知识讲座 日期：2024-11-25 19:02:00 点击：279 好评：0
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[射频RF系列] 一百多页的射频基础知识资料 日期：2023-01-30 11:07:00 点击：1749 好评：6
第1章基本电路知识 1.1 直流电路 1.1.1儿个名词 1.1.2一个最简单的电路图 1.1.3 功率与用电量 1.1.4电阻 1.1.5线圈 1.1.6电容 1.1.7直流电的应用 1.2 交流电路 1.2.1 楞次定律 1.2.2原理示意性交流发...
[射频RF系列] 射频(RF)印刷电路板(PCB)设计、布局有哪些知识点 日期：2022-12-08 16:26:00 点击：560 好评：12
射频(RF)印刷电路板(PCB)设计、布局有哪些知识点必须掌握？ 电巢射频 2022-09-08 20:03发表于陕西 本应用笔记提供关于射频(RF)印刷电路板(PCB)设计和布局的指导及建议，包括关于混合信号应...
[测试实例] MOSFET的参数解析 日期：2022-04-22 09:35:15 点击：2132 好评：16
几乎所有的书籍资料，在讲解MOSFET的时候，都喜欢先从微观结构去分析MOSFET基于半导体特性的各种结构，然后阐述这些结构导致其参数的成因。但是这种方式对于物理基础较弱的应用型...
