性能及可靠性是衡量芯片水平的重要维度,亦是客户选择芯片设计企业和产品的重要因素。在产品可靠性方面,IC设计公司需要引进和采用先进的质量管理理念,在研发及生产过程中执...
PCB layout需要丰富的经验和扎实的理论基础支持,还要多踩几个坑,多做几个仿真加深对走线的理解,才能形成闭环的走线设计,今天介绍一个和GND走线相关的案例,在手机领域会影响相...
随着芯片集成度的不断增加,芯片的功能越来越复杂,芯片测试的数据量 和测试时间都快速增加,且芯片在测试时的功耗远大于工作模式时的功耗, 因此会导致芯片过热,引起测试错...
最近遇到好几起测试不稳定的问题。有的是测试项单独测pass,整个flow跑就会不稳定。有的是调试时单步执行pass,测试项整体跑就fail。有的是手测pass,量产一跑就fail。这种不稳定的问...
RELAY 关断时感应波形对比 一、对象 RELAY_A:OMRON 2097N2 +12V 双刀双掷白色继电器 RELAY_B:TPM 20R-1A11N1 +5V 单刀单掷银色继电器 RELAY 线包可等效为电阻与电感并联,RELAY_A电阻约1K,RELAY_B电阻...
IC测试QQ群经典讨论之测试良品的标准 Dragon 11:34:46 求助: 有没有这个标准,说出货的良品里面不良品的百分比是多少算合格? 万分之一? Richard 11:35:38 不是有AQL吗 按GB2828 Dragon 11:35:5...
今天之所以要讲这个话题,主要是因为我看到现在还有不少的测试工程师还在把测试开发当作一个纯软件的工作.从软件的角度来看,输入固定的信息一般总是可以获得确定的结果,无论重复...
中国人有一句俗话,入宝山岂可空手而归.凡是有价值的东西,就要充分加以利用.有枣没枣都要打三杆子的时代,不能做捧着金饭碗要饭的事情.不过可惜的是,似乎很多的芯片设计公司,都在...
本文详细介绍了半导体制造过程中良率的提高分析,运用大量实例说明如何提高良率,作为测试工程师在CP测试中遇到低良率情况时,可以参考此资料,以分析测试及wafer各方面问题,另外本资...
冯蕊,于祥苓,周劲松 (中国电子科技集团公司第四十七研究所,沈阳ll0032) 摘要:介绍了在E 77O测试系统上对集成电路测试程序进行优化的方法。通过具体数据说明应用不同的测试方法...