[可靠性测试] 导热环氧树脂材料提高电子封装的可靠性 日期：2025-06-22 17:18:52 点击：115 好评：0
导热环氧树脂材料提高 电子封装 的可靠性 许多电子设备，性能特征会受到温度的影响。过多的热量会导致组件故障或过早失效。例如，发光二极管（LED）故障的主要原因之一是结点温...
[可靠性测试] 【2】什么是 ORT（On-Going Reliability Testing）？ 日期：2025-06-20 20:37:00 点击：165 好评：0
声明：本文 系本人原创 ， 在没有得到本人许可的情况下，谢绝转载！ 否则违者必究！ 本人已自研满足第5版FMEA标准的风险分析(DFMEA, PFMEA)，可靠性试验设计，寿命数据分析的 全流程...
[可靠性测试] 什么是 ORT（持续可靠性测试）？ 日期：2025-06-20 19:15:00 点击：264 好评：0
声明：本文 系本人原创 ， 在没有得到本人许可的情况下，谢绝转载！ 否则违者必究！ 本人已自研满足第5版FMEA标准的风险分析(DFMEA, PFMEA)，可靠性试验设计，寿命数据分析的 全流程...
[可靠性测试] 可靠性测试结构设计——层次化版图设计的优化 日期：2025-06-11 21:12:00 点击：212 好评：0
可靠性测试结构设计 在 可靠性测试结构设计层次化版图设计 一文中，对层次化版图设计做了初步介绍，本文进一步补充其有关知识，分述如下： 优化设计 非门设计 实际版图设计 1....
[可靠性测试] hast可靠性测试 日期：2025-06-11 19:54:00 点击：142 好评：0
hast可靠性测试 HAST即高加速应力测试，是一种重要的产品可靠性测试方法，相关介绍如下： 基本原理 加速老化：通过在高度受控的压力容器内，对样品施加高温、高湿以及高压的组合应...
[可靠性测试] 特种封装可靠性问题 日期：2025-06-04 21:23:14 点击：117 好评：0
特种封装可靠性问题 概述 2025 随着我国军事、航天、航空及机械工业的快速进步，电子设备正朝着多功能集成与微型化方向加速演进。这一发展趋势对电子元器件的封装技术提出了更高...
[可靠性测试] IC产品的质量与可靠性测试 日期：2025-06-01 19:00:27 点击：203 好评：0
质量（Quality）和可靠性（Reliability）在一定程度上可以说是IC产品的生命。质量（Quality）就是产品性能的测量，它回答了一个产品是否合乎规格（SPEC）的要求，是否符合各项性能指标的...
[可靠性测试] 一文了解半导体集成电路的可靠性评价 日期：2025-06-01 12:53:26 点击：193 好评：0
可靠性评价 半导体集成电路的可靠性评价是一个综合性的过程，涉及多个关键技术和层面,本文分述如下： 可靠性评价技术概述 可靠性评价的技术特点 可靠性评价的测试结构 MOS与双极...
[可靠性测试] HTOL可靠性估算原理 日期：2025-05-21 19:44:00 点击：273 好评：0
1. 什么是HTOL HTOL是High Temperature Operating Life的缩写，通常指高温工作寿命测试。 2. 为什么要进行HTOL测试 主要达成以下两个目标： 发现潜早期失效 ：产品在高温下加速老化，筛选与早期...
[可靠性测试] 可靠性试验中几个寿命加速模型 日期：2025-05-06 20:45:00 点击：222 好评：0
在可靠性工程领域，寿命加速模型是预测产品寿命的关键工具。 通过合理选择加速模型，可将传统耗时数年的寿命试验缩短至几周，显著提升研发效率。 实际应用中需结合失效机理验...
