[可靠性测试] 干货 | 碳化硅可靠性验证要点 日期：2024-11-28 19:21:00 点击：205 好评：0
从MOSFET 、二极管到功率模块，功率半导体产品是我们生活中无数电子设备的核心。从医疗设备和可再生能源基础设施，到个人电子产品和电动汽车(EV)，它们的性能和可靠性确保了各种...
[可靠性测试] 浅谈可靠性的“不可靠” 日期：2024-11-24 20:45:27 点击：132 好评：0
以下内容为可靠性知识共享学习会的会员朋友（王进）的经验分享，非常感谢其支持与共享，谢谢！ 一、引言 近年，国内可靠性领域的蓬勃发展，最近祝融登火 （一系列各种功能的分...
[可靠性测试] RA可靠性测试｜芯片寿命测试：确保电子设备可靠 日期：2024-11-24 18:21:00 点击：513 好评：0
在当今高度数字化的时代，芯片的可靠性对于各类电子设备的性能和稳定性起着至关重要的作用。CTI华测检测 可提供芯片寿命测试，为芯片的可靠性提供了全面而精准的评估方案。 H...
[可靠性测试] 对两个“可靠度”的思考 日期：2024-11-18 19:37:00 点击：154 好评：0
以下内容为可靠性知识共享学习会的会员朋友（匿名）的经验分享，非常感谢其支持与共享，谢谢！ 我们在设计试验确认可靠度是否达到目标要求时，产品在试验工况下的可靠度跟实际...
[可靠性测试] 元器件可靠性失效分析系列-MLCC（第一篇） 日期：2024-11-15 19:17:00 点击：409 好评：0
以下内容为可靠性知识共享学习会的会员朋友（黄永兆）的经验分享，非常感谢其支持与共享，谢谢！ 1、前言 MLCC（Multi-layer Ceramic Capacitors）片式多层陶瓷电容器，引起MLCC失效的原因...
[可靠性测试] 元器件可靠性失效分析系列-MLCC（第二篇） 日期：2024-11-15 19:03:00 点击：393 好评：2
以下内容为可靠性知识共享学习会的会员朋友（黄永兆）的经验分享，非常感谢其支持与共享，谢谢！ 第一篇链接： 元器件可靠性失效分析系列-MLCC（第一篇） 3、MLCC不当使用失效原因...
[可靠性测试] 元器件可靠性技术（DPA与失效分析） 日期：2024-11-14 19:33:00 点击：355 好评：0
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[可靠性测试] HTOL与LTOL的相关标准与失效模式详解 日期：2024-11-03 20:41:00 点击：781 好评：0
一、HTOL（高温寿命试验） 1. 定义与目的 HTOL（High Temperature Operating Life Test）即高温寿命试验，是一种通过加速热激活失效机制来确定产品可靠性的测试方法。该测试在模拟高温工作环境...
[可靠性测试] IC 产品的质量与可靠性测试 日期：2024-11-03 19:31:38 点击：275 好评：0
IC 产品的质量与可靠性测试 (IC Quality Reliability Test ) 质量（Quality）和可靠性（Reliability）在一定程度上可以说是IC 产品的生命，好的 品质，长久的耐力往往就是一颗优秀IC产品的竞争力所...
[可靠性测试] IC芯片老化测试以及方案详解 日期：2024-11-03 18:27:00 点击：295 好评：0
芯片老化试验是一种对芯片进行长时间运行和负载测试的方法，以模拟芯片在实际使用中的老化情况。 1. 目的：芯片老化试验的目的是评估芯片在长时间使用和负载情况下的可靠性和性...
