[可靠性测试] SiC可靠性验证，这些不得不做的测试 日期：2024-04-15 21:58:46 点击：469 好评：0
1940年，贝尔实验室在研究雷达探测整流器时，发现硅存在PN结效应，1958年，美国通用电气（GE）公司研发出世界上第一个工业用普通晶闸管，标志着电力电子技术的诞生。 从此功率半导...
[可靠性测试] Aehr Test Solutions：在SiC晶圆级测试和老化测试市场 日期：2024-04-15 20:23:00 点击：200 好评：0
Aehr Test Solutions，美国一家拥有独特测试解决方案的小公司，其技术用于苹果的Face ID、英特尔硅光子学，以及最目前对他们业务影响最重要的SiC（碳化硅）市场。 前不久他们发布了自己...
[可靠性测试] AEC-Q006 标准解读及可靠性要求研究 日期：2024-04-09 13:28:41 点击：721 好评：0
摘要： 探讨了铜线键合器件在汽车电子认证中的可靠性要求。铜线键合器件在电子封装域已得到一定的推广及应用，然而，相比金线键合，由于铜线特殊的材料属性和键合工艺，其可靠...
[可靠性测试] AEC-Q100车规芯片验证B1：HTOL - 高温工作寿命实验 日期：2024-04-06 19:09:00 点击：1054 好评：4
AEC-Q100文件，是芯片开展车规等级验证的重要标准和指导文件。 B组验证是ACCELERATED LIFETIME SIMULATION TESTS 加速生命周期模拟验证 本文将重点对B组的第1项HTOL - High Temperature Operating Life 高温...
[可靠性测试] AEC-Q100车规芯片验证B2：ELFR - 早期寿命失效（早夭 日期：2024-04-06 17:57:00 点击：1001 好评：0
AEC-Q100文件，是芯片开展车规等级验证的重要标准和指导文件。 B组验证是ACCELERATED LIFETIME SIMULATION TESTS 加速生命周期模拟验证 本文将重点对B组的第2项ELFR - Early Life Failure Rate早期寿命失...
[可靠性测试] AEC-Q100车规芯片验证E1：TEST 测试/回测 日期：2024-04-06 17:34:23 点击：592 好评：0
AEC-Q100文件，是芯片开展车规等级验证的重要标准和指导文件。 E组验证是ELECTRICAL VERIFICATION TESTS电气特性验证测试 本文将重点对E组的第1项TEST ---- Pre- and Post-Stress Function/Parameter 应力验...
[可靠性测试] 可测性设计(DFT)技术详解(71页PPT) 日期：2024-03-26 18:51:00 点击：360 好评：0
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[可靠性测试] 可靠性试验培训 日期：2024-03-09 20:15:00 点击：277 好评：0
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[可靠性测试] 可测性设计DFT----生产测试简介 日期：2024-03-04 20:13:00 点击：422 好评：4
本章先简单介绍芯片的生产测试。 在古代，我们的祖先就掌握了测试技术，例如农民发明吹风机测试稻谷，把饱满的谷粒和谷壳分离开来，这就是早期的测试机器。 生产测试的目的是...
[可靠性测试] 干货！如何装作很懂芯片测试... 日期：2024-03-04 19:33:56 点击：454 好评：2
师爷之前讲过关于集成电路设计、晶圆代工、封装等，但对于芯片测试这一块较少涉及，今天就来给大家科普下吧！ 为什么要进行芯片测试? 芯片测试是一个比较大的问题，直接贯穿整...
