[可靠性测试] 量产导入 | DFT可测试性设计：SCAN和ATPG 日期：2024-06-19 19:06:00 点击：829 好评：0
目标 完成本文的阅读后，您应该能够： Describe the difference between engineering test and manufacturing test. Explain what scan test is. Describe the basic scan test process.Explain what manufacturing defects are. List the c...
[可靠性测试] 量产导入 | DFT可测试性设计：Tessent Scan 和 ATPG 日期：2024-06-17 20:56:00 点击：656 好评：0
目标 Upon completion of this module, you should be able to: Use Tessent Scan to insert full scan. Write a scan-inserted netlist file. Write ATPG setup files. lnsert test logic. Create, configure, and balance scan chains. Edit a scan chain...
[可靠性测试] 量产导入 | 产品可靠性测试标准完整大集合（J 日期：2024-06-11 19:14:00 点击：611 好评：0
产品可靠性测试标准完整大集合（JEDEC/IEC/SAE） 产品可靠性测试是产品质量保证中的重要一环， 包含有Pre-con, aging(寿命）和ESD(静电）等， 下面就收集了权威标准JEDEC全系列， 请参照如...
[可靠性测试] CDM 测试（2） 日期：2024-05-07 23:12:00 点击：286 好评：4
这是一个从case开启的故事。前段时间跟一个同行聊CDM测试，一颗产品CDM只能pass 200V。参考以往测试经验，虽说一些射频相关或带高速接口的芯片，接口的ESD能力会稍差，但小封装一般...
[可靠性测试] 老化机台及一些测试 日期：2024-05-07 22:24:00 点击：638 好评：4
我们之前对HTOL有不少介绍，这次标题没有用HTOL，在老化测试中，有不同的Burn in和老化机台，本期对不同的机台稍作整理，方便大家在产品应用中选择。 高温炉 高温炉是最简单的一种...
[可靠性测试] 老化寿命计算 日期：2024-05-07 21:20:23 点击：721 好评：4
寿命这个概念，严格来讲属于耐久性的范畴，是产品耐久性的一种度量方式。耐久性怎么理解呢？可以认为是可靠性的一种特殊情况，表示产品在规定时间内抵抗腐蚀、热冲击、磨损、...
[可靠性测试] 其他可靠性实验 日期：2024-05-07 20:22:00 点击：391 好评：0
之前我们介绍了HTOL、ESD和HAST等相关内容，今天汇总聊聊其他可靠性实验。 芯片设计公司常做的可靠性实验列表如下： HTOL介绍参考： 老化寿命计算62 赞同 55 评论文章 老化机台及一些...
[可靠性测试] 汽车电子可靠性测试详解---AEC-Q100/101 日期：2024-04-25 19:32:31 点击：271 好评：0
近几年新能源汽车的发展异常迅速，随之而来的车用芯片的发展同样会迎来一波高潮，但汽车电子对IC质量的要求非常苛刻，基本以国外芯片供应商为主，国产芯片能进入汽车领域的不...
[可靠性测试] 电源模块可靠性测试实战指南 日期：2024-04-22 10:41:52 点击：306 好评：0
前言 随着现代科技的迅速发展，市场对产品质量的要求不断提高，产品质量已成为企业核心竞争力的关键因素。在这个品质为王的时代，电源制造商们也面临着更高的要求，只有经过多...
[可靠性测试] PCB电路板的可靠性测试 日期：2024-04-16 21:08:00 点击：224 好评：0
前言 随着时代的发展，PCB电路板在各种终端产品中发挥着重要作用，产品竞争日益激烈，因此对PCB产品的可靠性提出了更高的要求。在设计可靠的电路板时，需要遵循严谨的PCB设计过程...
