[可靠性测试] 半导体后端工艺：了解半导体测试（下） 日期：2023-07-25 12:49:53 点击：261 好评：0
晶圆测试 晶圆测试的对象是晶圆，而晶圆由许多芯片组成，测试的目的便是检验这些芯片的特性和品质。为此，晶圆测试需要连接测试机和芯片，并向芯片施加电流和信号。完成封装的...
[可靠性测试] 半导体后端工艺：了解半导体测试（上） 日期：2023-07-22 20:27:37 点击：267 好评：0
半导体制作工艺可分为前端和后端：前端主要是晶圆制作和光刻（在晶圆上绘制电路）；后端主要是芯片的封装。随着前端工艺微细化技术逐渐达到极限，后端工艺的重要性愈发突显。...
[可靠性测试] 高度加速寿命测试 日期：2023-07-21 22:47:31 点击：172 好评：0
高度加速寿命测试 1.概念 高度加速寿命测试（HALT）是一种加速的环境测试过程，用于评估和提高产品设计和组件/材料的耐用性。产品的坚固性是最终可靠性性能的直接指标。高度加速...
[测试工程] 每次提出一个bug都让测试重现 日期：2023-07-19 18:30:00 点击：232 好评：0
开发的工作就是按照PM的设计将产品最终造出来，而测试则是在开发已完成的工作里纠错。so，测试的工作会让开发很不爽，人之常情，谁都不喜欢自己的劳动成果被别人挑毛病。 如果...
[可靠性测试] 芯片测试问答 日期：2023-07-18 20:30:51 点击：738 好评：0
Q1 请问一下大家做HTOL时有加信号吗？ 要根据芯片需要来决定。大部分芯片是跑老化Pattern， 有些芯片是需要通过总线配置寄存器，比如I2C，SPI，JTAG 来启动内部老化模式。还有些芯片是...
[测试工程] 消费类音视频SoC系统ATE测试要求 日期：2023-07-16 14:30:29 点击：263 好评：0
消费类音视频SoC系统ATE测试要求 ICtest [导读] 随着大批量消费类行业中SoC与SIP日趋复杂化，低成本与高器件寿命周期这两个基本要求的矛盾更加突出。消费者要求在相同或更低成本基础...
[可靠性测试] 集成电路测试中的BIST技术研究与应用 日期：2023-07-15 12:27:10 点击：154 好评：0
摘要： 随着集成电路技术的不断发展，芯片的复杂度和规模呈指数级增长，对测试技术提出了更高的要求。BIST（Built-In Self-Test）技术作为一种集成测试电路在芯片内部的自动测试方法...
[可靠性测试] 详解半导体封装测试工艺 日期：2023-07-11 17:05:00 点击：239 好评：0
简介 半导体：生产过程主要可分为（晶圆制造 Wafer Fabrication） 、（封装工序 Packaging）、（测试工序 Test） 几个步骤。 晶圆制造 （Wafer Fabrication）：是晶体按照设计图纸，进行芯片制作...
[可靠性测试] 最核心的CP测试和FT测试 日期：2023-06-29 16:32:24 点击：356 好评：0
本文目录： 为什么要测试，为什么分开测试？ CP测试和FT测试的具体不同 主要测试项 CP和FT测试，对芯片设计有什么要求 1为什么要测试，为什么要分开测试 为什么要测试？ 芯片设计好...
[测试工程] 电阻为什么要拉一下？上、下拉的作用！ 日期：2023-06-27 10:30:42 点击：285 好评：0
什么是上拉电阻？上拉电阻和下拉电阻都是电阻元器件，所谓上拉电阻就是接电源正极，下拉的就是接负极或地。上拉就是将不确定的信号通过一个电阻钳位在高电平，电阻同时起限流...
