[测试工程] 同一颗芯片，不同测试厂良率差好几个点：问题 日期：2026-08-12 20:58:44 点击：138 好评：0
摘要： 设计公司把同一批晶圆分给两家测试厂，回来良率一个九十五、一个八十八，这种事在行业里太常见。先别急着怪工艺，良率这个数字本身，有一大半是测试过程造出来的。今天...
[测试工程] 输出功率、EVM、ACLR：射频芯片测试到底在卡什么 日期：2026-08-09 22:09:41 点击：119 好评：0
摘要： 数字电路测的是 0 和 1，模拟电路测的是准不准，射频芯片测的又不一样。它要在 GHz 级的频率上，把一个调制信号从天线前一级送出去，看它够不够强、调制够不够准、有没有...
[测试工程] 导通电阻、Qg、双脉冲：功率器件测试到底在卡什 日期：2026-08-09 20:02:00 点击：53 好评：0
摘要： 一颗功率器件不处理逻辑信号，也不处理调制波形，它干的是把电能高效地搬来搬去。MOSFET、SiC、GaN 在电源、电机、快充、车载充电机里反复开关，测试它们的重点始终绕不开...
[可靠性测试] 可靠性—HAST介绍 日期：2026-08-09 18:37:00 点击：87 好评：0
什么是HAST？ （Highly Accelerated Temperature And Humidity Stress Testing）即高加速应力测试。通过对样品施加高温高湿以及高压的方式，实现对产品加速老化的一种试验方法。广泛用于PCB、IC半导...
[测试工程] ATE测试解惑：低温低压到底是不是最坏测试工况 日期：2026-07-29 21:25:00 点击：152 好评：0
做过芯片ATE量产测试的朋友基本都有同感：芯片的大部分功能性失效、测试良率波动、临界报错，很少出现在高温高压的常规可靠性测试场景里，反而大多集中在低温、低压的组合测试...
[可靠性测试] 车规芯片可靠性解析：为何严苛的BHAST仍无法替代 日期：2026-07-27 23:17:51 点击：208 好评：0
在AEC-Q100车规芯片认证体系中，BHAST与UHAST是两项核心的高加速湿热可靠性测试。行业内普遍公认，带电压偏置的BHAST测试环境更苛刻、失效触发力度更强，能快速暴露芯片通电工况下的...
[可靠性测试] 栅极可靠性老化研究——第三部分 HTGB DGS退化特 日期：2026-07-24 19:36:00 点击：165 好评：0
AccoPower 在第二部分，我们对HTGB和DGS的老化机理进行了阐述，包含缺陷生成、俘获-去俘获过程等，有了深浅能级缺陷的概念。 可靠性研究 | 从静态偏压到动态应力：功率半导体栅极可靠...
[测试工程] 芯片开短路测试｜Open-Short Test 详解 原创 二十五 日期：2026-07-23 22:15:14 点击：173 好评：0
开短路测试也叫连续性、接触测试，是芯片制程里基础且关键的检测工序。主要核验测试链路与芯片全部引脚电气接触状态，排查引脚互短、引脚碰电源 / 地等异常问题。 一、测试排查...
[测试工程] 开尔文四线检测原理与应用 日期：2026-07-23 21:08:00 点击：205 好评：0
精密测量技术：开尔文四线检测 开尔文四线检测，也叫四端子检测、四线检测、四点探针法，是以欧姆定律为基础的电阻抗测量方式。 测试核心原理 常规两线测量易受导线自身电阻干...
[测试工程] 芯片测试异常复盘知识库 日期：2026-07-22 20:13:00 点击：84 好评：0
面对异常，复盘不是追责大会，而是我们提升质量、优化流程的宝贵机会。下面我将以行业小白的视角，为你梳理一套事半功倍的异常复盘知识库，助你快速上手。 第一步：稳住阵脚，...
