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  • [测试工程] 混合信号测试基础知识 日期:2025-06-22 11:05:00 点击:190 好评:0

    混合信号测试基础知识 混合信号 混合信号包含模拟信号和数字信号。处理混合信号的器件通常包括 ADC、DAC、模拟开关和多路复用器、采样保持放大器等。 作为其中的一部分,模拟信号...

  • [测试工程] ATE唠唠嗑No.6——SCAN 失效调试案例分享 日期:2025-06-21 23:30:24 点击:184 好评:0

    数字IP测试遇到SCAN Fail如何调试? o 案例背景 这周测试过一批数字芯片,室温和高温都pass,低温却有~5%的SCAN fail。Fail的芯片不连续,且通过rescreen可以回收部分芯片。 o 调试思路(供参...

  • [测试工程] ATE唠唠嗑No.3——Trim 日期:2025-06-21 19:50:00 点击:135 好评:0

    Trim 初见 1. Trim 的核心定义 Trim 是通过物理或软件手段对芯片内部电路参数进行微调的过程,目的是: 补偿制造偏差 (如工艺波动导致的电阻/电容值偏移) 提高精度 (如调整基准电压...

  • [可靠性测试] 【2】什么是 ORT(On-Going Reliability Testing)? 日期:2025-06-20 20:37:00 点击:151 好评:0

    声明:本文 系本人原创 , 在没有得到本人许可的情况下,谢绝转载! 否则违者必究! 本人已自研满足第5版FMEA标准的风险分析(DFMEA, PFMEA),可靠性试验设计,寿命数据分析的 全流程...

  • [可靠性测试] 什么是 ORT(持续可靠性测试)? 日期:2025-06-20 19:15:00 点击:245 好评:0

    声明:本文 系本人原创 , 在没有得到本人许可的情况下,谢绝转载! 否则违者必究! 本人已自研满足第5版FMEA标准的风险分析(DFMEA, PFMEA),可靠性试验设计,寿命数据分析的 全流程...

  • [可靠性测试] 可靠性测试结构设计——层次化版图设计的优化 日期:2025-06-11 21:12:00 点击:203 好评:0

    可靠性测试结构设计 在 可靠性测试结构设计层次化版图设计 一文中,对层次化版图设计做了初步介绍,本文进一步补充其有关知识,分述如下: 优化设计 非门设计 实际版图设计 1....

  • [可靠性测试] hast可靠性测试 日期:2025-06-11 19:54:00 点击:134 好评:0

    hast可靠性测试 HAST即高加速应力测试,是一种重要的产品可靠性测试方法,相关介绍如下: 基本原理 加速老化:通过在高度受控的压力容器内,对样品施加高温、高湿以及高压的组合应...

  • [测试工程] 芯片中MOS是如何测试的?(2) 日期:2025-06-09 20:51:00 点击:260 好评:2

    根据之前的介绍,相信大家对芯片出货之前必须做的WAT 测试有了基础的了解,今天就开始具体介绍一下上面文章提到的测试,并针对CMOS进行参数的分析,话不多说,下面就从CMOS制程中...

  • [测试工程] 芯片是如何测试的?(1) 日期:2025-06-09 19:18:00 点击:201 好评:0

    一.晶圆测试介绍 经过上面的几道工艺之后,晶圆上就形成了一个个格状的晶粒。通过针测的方式对每个晶粒进行电气特性检测,以达到对晶圆的生产制造的精确控制和评估整个工艺制...

  • [可靠性测试] 特种封装可靠性问题 日期:2025-06-04 21:23:14 点击:112 好评:0

    特种封装可靠性问题 概述 2025 随着我国军事、航天、航空及机械工业的快速进步,电子设备正朝着多功能集成与微型化方向加速演进。这一发展趋势对电子元器件的封装技术提出了更高...

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