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  • [可靠性测试] 可靠性与安全性 日期:2023-08-17 20:39:00 点击:210 好评:0

    1.概念 在整个产品开发过程中,必须认识并协调可靠性与安全性之间的关系。 在产品开发过程中,可靠性和安全性是两个密切相关的概念,需要相互认识和协调。下面将展开可靠性与安...

  • [测试工程] 内置测试(BIT) 日期:2023-08-17 19:33:00 点击:788 好评:0

    1.概念 具有内置测试(BIT)的系统可以进行自我测试,以确定是否已经发生或将要发生故障。提供的信息对于维护目的可能是有用的-允许在遇到任何实际错误之前纠正问题。它还可以确...

  • [可靠性测试] 分治算法之芯片测试 日期:2023-08-16 20:27:03 点击:168 好评:0

    VLSI芯片测试 1. 芯片测试 在讲解具体的芯片测试的分治策略算法之前,先来了解芯片测试的意思。 1.1 一次测试的过程 如上图,A、B为芯片。测试方法为:将2片芯片(A和B)置于测试台...

  • [可靠性测试] 芯片可测性设计技术(DFT)详解 日期:2023-08-15 19:23:00 点击:257 好评:0

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  • [可靠性测试] 芯片检测的基本方法 日期:2023-08-13 19:47:00 点击:265 好评:0

    今天主要探讨关于芯片检测的方法。不同的芯片和应用领域,可能需要使用不同的检测方法来满足其需求。 手机芯片的检测主要包括以下几个方面: 功能性测试:通过对手机芯片进行...

  • [可靠性测试] 如何区分芯片cp测试和ft测试 日期:2023-08-13 18:58:40 点击:273 好评:0

    之前我们跟随金誉半导体有了解过,CP测试和FT测试是芯片测试中的两个模块。 CP是Chip Probe的缩写,指的是芯片在wafer的阶段,就通过探针卡扎到芯片管脚上对芯片进行性能及功能测试,...

  • [可靠性测试] 基础软件设计中的FMEA方法 日期:2023-08-11 20:27:16 点击:171 好评:0

    导读 从最基础的传感器到高度复杂的中央域控,各级别的电子控制器已融入到现代汽车的核心构造之中,成为动力与智能的交汇点。控制器的软硬件协同运作,为用户带来了全新的驾乘...

  • [可靠性测试] 可靠性证明测试 日期:2023-08-01 21:30:57 点击:153 好评:0

    高度加速寿命测试 1.概念 高度加速寿命测试(HALT)是一种加速的环境测试过程,用于评估和提高产品设计和组件/材料的耐用性。产品的坚固性是最终可靠性性能的直接指标。高度加速...

  • [测试工程] 一种基于ATE的SerDes物理层测试方法 日期:2023-07-31 18:47:47 点击:254 好评:0

    串行传输技术特别是串行解串器(SerDes)能提供比并行传输技术更高的带宽,被广泛应用于嵌入式高速传输领域。SerDes 物理层的测试需要设备的带宽大于信号速率,测试指标高且测试端...

  • [可靠性测试] IC芯片到底需要做哪些测试? 日期:2023-07-25 21:58:32 点击:255 好评:2

    做一款芯片最基本的环节是设计-流片-封装-测试,芯片成本构成一般为人力成本20%,流片40%,封装35%,测试5%【对于先进工艺,流片成本可能超过60%】。 测试其实是芯片各个环节中最便...

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