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AEC-Q100改版H->J速览

时间:2025-09-15 19:26来源: MCU内外 作者:ictest8_edit 点击:

 

2023年10月,AEC(汽车电子委员会)将AEC-Q100从Version H更新至Version J,虽然并非大规模重构,但一些变化值得关注。

改版方向 具体更新内容 涉及领域/工艺 意义
定义特定工艺与封装 新增对28纳米工艺RF频率组件的ESD耐受程度,以及FC-BGA(覆晶球栅数组)封装测试的定义 先进工艺、先进封装 适应车用芯片采用更先进工艺和封装形式的趋势,确保其可靠性。
明确故障分析与Mission Profile应对建议 引入8D Report (Eight Discipline Methodology) 进行故障分析 所有车用芯片 提供标准化的故障分析改善流程。
  建议利用Mission Profile流程图KBTM (Knowledge-Based Test Methodology) 确定测试计划 所有车用芯片 确保芯片在整个预期使用寿命内(通常10-15年)的可靠性。
更新测试项目与条件 晶圆级可靠度验证:NBTI (Negative Bias Temperature Instability) 改为 BTI (Bias Temperature Instability) 先进CMOS技术 涵盖目前CMOS技术的NBTI和PBTI (Positive Bias Temperature Instability)。
  温度循环测试(TCT) Grade 0:测试循环数由2000次下修至1500次 所有车用芯片 循环次数调整可能基于更真实的车辆环境数据,并要求TCT后执行SAT检测确认内部是否脱层。
  铜打线(Cu wire):要求取得AEC-Q006验证数据,现已成为组件合格的强制性先决条件 使用铜打线的芯片 确保铜打线连接的可靠性。
  FC-BGA封装:增加凸块剪切(Bump Shear Test, BST) 测试项 FC-BGA封装 针对FC-BGA封装的特点,检验其焊点的机械强度。
认识AEC-Q100

AEC-Q100是由国际汽车电子协会(AEC) 制定的针对集成电路(IC) 的车规级可靠性测试标准。它旨在确保车规级芯片能在严苛的汽车环境中长期稳定运行,是芯片进入汽车领域的基本门槛

AEC-Q100标准包含了7大测试群组(环境应力测试、寿命模拟测试、封装完整性测试、制造可靠性测试、电性验证测试、缺陷筛选测试、腔体封装测试),共计40多项严格的测试。芯片需要通过所有这些测试才能获得认证,通常需要至少半年时间

AEC-Q100还根据芯片的应用部位和环境温度,定义了四个等级

等级 环境工作温度范围 常见应用场景
Grade 0 -40°C 至 +150°C 引擎控制单元(ECU)、变速箱控制模块等(最严苛)
Grade 1 -40°C 至 +125°C 车身控制、底盘系统、智能座舱、辅助驾驶等(常见于多数车规芯片)
Grade 2 -40°C 至 +105°C 车身控制模块、空调系统等
Grade 3 -40°C 至 +85°C 信息娱乐系统等
AEC-Q100与其他车规标准
除了AEC-Q100,汽车电子领域还有其他重要的AEC-Q系列标准,它们共同构成了车规认证的体系:

AEC-Q101:针对离散半导体器件(如晶体管、二极管)。

AEC-Q102:针对离散光电器件(如车用LED)。

AEC-Q103:针对传感器(如MEMS传感器)。

AEC-Q104:针对多芯片模块(MCM) 和系统级封装(SiP —— 这对集成多个芯片的复杂模块非常重要。

AEC-Q200:针对无源元件(如电阻、电容、电感)。

⚠️ 车规认证的“双重门槛”
需要注意的是,芯片要进入汽车领域,通常需要两张“资格证”:

1. AEC-Q系列可靠性标准认证:证明芯片本身的可靠性和质量。

2. 符合零失效的供应链质量管理标准IATF 16949规范:证明芯片设计、制造企业的质量管理体系符合汽车行业要求。
 
给芯片企业的建议

精准定位:根据芯片的目标应用场景(如动力、底盘、车身、座舱、智驾),确定所需的AEC-Q100等级和具体的测试要求。AEC-Q100允许根据芯片特性对不适用的测试项目进行裁剪,采用“按需测试”原则。

生态合作:车规芯片的研发和认证是一项系统工程,与可靠的晶圆厂、封装测试厂、认证检测实验室以及EDA工具厂商紧密合作至关重要。

关注动态:AEC-Q标准仍在不断发展和更新中,以适应新技术(如ADAS、自动驾驶)的需求。建议密切关注AEC等组织的官方信息更新。

总结
AEC-Q100 Version J的改版,虽然幅度不大,但体现了车规认证体系对先进工艺(如28nm)先进封装(如FC-BGA) 以及更精细化可靠性评估的持续关注和完善。
 
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