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hast可靠性测试

时间:2025-06-11 19:54来源:半导体材料与工具 作者:ictest8_edit 点击:
hast可靠性测试

HAST即高加速应力测试,是一种重要的产品可靠性测试方法,相关介绍如下:

· 基本原理

· 加速老化:通过在高度受控的压力容器内,对样品施加高温、高湿以及高压的组合应力,加速水分穿透产品外部保护性包装,并作用于产品内部材料或组件,从而加速产品可能出现的如迁移、腐蚀、绝缘劣化、材料老化等失效过程,以在较短时间里暴露产品潜在问题。

· 主要目的

· 评估可靠性:快速评估产品在高温高湿等恶劣环境下的可靠性,确定产品能否在预期使用环境中长期稳定工作。

· 发现缺陷:帮助发现产品设计和制造过程中存在的潜在缺陷,如封装不严、材料兼容性问题、焊接可靠性不足等,为产品改进提供依据。

· 适用范围

· 广泛应用于:PCB、IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等众多行业,用于评估产品密封性、吸湿性及老化性能。

· 优势特点

· 缩短周期:相比传统85℃/85%RH等高温高湿测试,HAST通过增加压力实现超过100℃的温湿度控制,能大幅缩短可靠性评估测试周期,节约时间和成本。

· 常见标准

· 国际标准:IEC 60749-4、ED-4701/100A、JESD22-A118、JESD22-A110E、JESD22-A102E、AEC-Q100等。

· 国家标准:GB/T 2423.40等。

需要注意的是,HAST试验结果受试验条件、产品特性等多种因素影响,试验前需根据产品特点和需求合理选择试验条件和标准,试验后要结合实际对结果进行科学分析和判断。
 
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