 在芯片设计与测试领域，信号引脚和电源引脚是最核心的引脚类型，它们承载着芯片功能实现与稳定运行的关键职责。深入理解各类引脚的功能特性及其在电路中的作用，不仅有助于我们高效设计测试硬件，规划测试项目，还能为测试程序的开发与调试提供监视的理论基础。当测试过程中出现异常时，清晰的引脚功能认知能帮助工程师快速定位问题根源，优化解决方案。本文将从引脚分类与功能开发，探讨其在芯片测试中的实际应用，本期为相关领域的从业者提供有价值的参考。 · DUT-(Device Under Test):被测件，又称UUT-(Unit Under Test). · DUT 引脚定义 § signal PIN-信号引脚，包含：Input 输入引脚，Output 输出引脚，Tri-State三态引脚，Bi-directional 双向引脚四类。 o Input Pin - 输入引脚： 外部向DUT 传递电信号的通道，输入引脚一般需要有较强的取电流能力，较小的漏电流，CMOS器件输入引脚悬空时可能导致振荡进而引起振铃损坏芯片，故CMOS 器件的输入引脚一般有上/下拉电阻来固定输入电平。 o OutPut Pin - 输出引脚：DUT 与外部环境之间的信号输出通道，输出引脚需要有较小的阻抗，合适的电流驱动能力。 o Tri-State Pin - 三态引脚：三态引脚是一种常见的输出引脚类型，可关闭DUT PIN 输出，此时输出通路属于高阻值（>1MΩ）状态。常见于需要进行总线共享的DUT PIN 脚。 o Bi-directional Pin 双向引脚：拥有输入功能，输出功能和高阻态的DUT管脚。 四大信号引脚类型电气参数与ATE 测试参数对比
· Power PIN-电源引脚, DUT 供电回路PIN,"电源"和"地"统称为Power PIN- 电源引脚，电源引脚和信号引脚有着不同的电路结构，故两者在测试时关注的电参数特性也不同。常见的电源引脚有如下四类： § VCC: TTL 器件的供电引脚 § VDD: CMOS 器件的供电引脚 § VSS：为VCC 或 VDD提供电流回路的引脚 § GND: 地，与ATE地及大地相连，为信号引脚或其他电路节点提供参考0电位，单一供电器件常称VSS为GND 电源引脚电气参数与ATE 测试项目对比
信号引脚与电源引脚作为芯片的核心组成部分，其功能特性直接关系到芯片的性能表现与测试效率。通过系统梳理各类引脚的功能及其在测试中的关键作用，我们能够更精准地设计测试硬件、制定测试策略，并高效完成测试程序的开发与调试工作。同时，结合测试过程中的异常现象，深入分析引脚层面的潜在问题，可以显著提升调试效率，缩短产品开发周期。希望本文的探讨能为芯片测试领域的同行带来启发，推动测试技术的进一步优化与创新。 |
