1.MOS中的电流决定MOSFET电流的一个重要因素是表面反型层中的电子或空穴迁移率,即SURFACE MOBILITIES AND HIGH-MOBILITY FETS。迁移率描述了在施加电场作用下,载流子在半导体中沿着电场方向移动的速率。 ![]() 如上图,当施加一个小的Vds时,漏极到源极电流Ids计算如下式 ![]() 其中,W为channel Width, Qinv是反型的电荷密度,为channel 电场,L为channel length。µns为电子表面迁移率,即有效迁移率。在mosfet中,µns和µps(空穴表面迁移率)比体迁移率小几倍。 ![]() µns是反型层顶部电场和底部电场平均值的函数。应用Gauss定律,将耗尽层底部作为Gaussian box. ![]() 联立以上两式,得到 ![]() 在耗尽层与反型层之间应用Guass‘ Law ![]() µns has been found to be a function of the average of b and t. ![]() Electron and hole surface mobilities are determined by Vgs, Vt, and Toxe. Toxeis the SiO2 equivalent electrical oxide thickness. (From [4]. © 1996 IEEE.) 或者表示为µns 是( Qdep + Qinv / 2)相关的函数 ,根据测量值可以得到: ![]() µps是(t + 1.5b)/2的函数 ![]() 上述迁移率模型主要考虑了主要变量Vgs, Vt, 和 Toxe对表面迁移率的影响。当考虑的变量一致时,所有Si MOSFET 表现出基本相同的表面迁移率,如上图所示。这称为硅的普遍有效流动性,universal effective mobility,而表面迁移率低于体迁移率的原因是由于表面粗糙度散射surface roughness scattering 。也正是由于表面粗糙度散射的影响,导致反型层中载流子越靠近Si-SiO2表面,迁移率越低,电场越强。µns和µps大致遵循T-3/2温度依赖性,即声子散射特性 二.简述MOSFET Vt, BODY 效应以及STEEP RETROGRADE DOPING 首先,让我们逐一解释这些概念: 1. MOSFET Vt (阈值电压): MOSFET(金属氧化物半导体场效应晶体管)是一种广泛使用的晶体管类型,其工作原理依赖于通过栅极电压来控制源极和漏极之间的电流。阈值电压(Vt)是指在MOSFET开启(导通)状态与关闭(截止)状态之间转换所需的栅极电压。当栅极电压高于阈值电压时,MOSFET导通;反之,则处于截止状态。阈值电压是由MOSFET的制造工艺决定的,并且可以被设计成不同的值以适应不同的应用需求。 2. BODY 效应: 在MOSFET中,Body效应指的是由于体区(通常是衬底的一部分)相对于栅极的电势变化而引起的阈值电压的变化。当体区相对于源区的电位降低时,阈值电压增加,这使得需要更高的栅极电压才能使MOSFET导通。这种效应对于增强型和耗尽型MOSFET都有影响,但在绝缘体上硅(SOI)技术中更为显著,因为SOI结构中的体区是悬浮的,因此更容易受到体电压的影响。 3. STEEP RETROGRADE DOPING: Steep retrograde doping(陡峭的逆向掺杂)是一种在半导体器件制造过程中使用的掺杂技术,它允许在极短的距离内实现从高掺杂浓度到低掺杂浓度的快速过渡。这种技术通常用于减少结深,从而改善器件的性能,如提高速度和减少寄生电容。陡峭的逆向掺杂对于先进节点尺寸下的晶体管(如FinFETs和其他多栅极器件)特别有用,因为它有助于减小器件尺寸的同时保持良好的电气特性。 了解了这些概念,我们来看一下它们如何影响Vt 1.body效应如何影响Vt Body效应对MOSFET的阈值电压(Vt)有直接影响。具体来说,Body效应是指在MOSFET中,当体区(Body)的电位相对于源区发生变化时,阈值电压也会随之变化的现象。这里所说的“体区”通常指的是MOSFET的P型衬底或N阱部分,在NMOS或PMOS晶体管中分别对应不同的材料类型。 在传统的体硅MOSFET中,Body效应表现为以下情况: 1.对于NMOS晶体管:如果体区(通常是P型衬底)相对于源区(N+区)的电位更负(即体偏压为负),那么阈值电压Vt会增加。这意味着需要更高的栅极电压才能使NMOS晶体管导通。相反,如果体区电位更正,则阈值电压会降低。 2.对于PMOS晶体管:情况正好相反。如果体区(通常是N阱)的电位更正(即体偏压为正),则阈值电压Vt会增加,同样地,如果体区电位更负,则阈值电压会降低。 这种效应是因为体区电位的变化会影响反型层中载流子的积累,从而改变MOSFET开启所需的有效栅极电压。在绝缘体上硅(SOI)结构或FinFET等三维结构中,Body效应尤为重要,因为在这种情况下体区不是直接连接到电路的地电位,而是浮动的,这使得体区电位更加容易受到外部条件的影响。 总之,Body效应导致了阈值电压随体区电位的变化而变化,这对于正确设计和操作MOSFET是非常重要的,尤其是在需要精确控制电流和功耗的应用中。 |