 SoC是「System on a Chip」的省略词，过去通常是由无数芯片构成，随着相关技术的发展，目前的SoC是指将CPU等逻辑IC、多种IP、各种存储器集成在1个芯片上的元器件，也称为系统LSI。 元器件的种类 MPU＝Micro Processing Unit 微处理器 微型演算处理装置，是使用在电脑心脏部位（确切地说是头脑部）的IC。 举个美国Intel：Pentium和Celeron 美国Spansion：K6处理器和K7处理器 MCU＝Micro Controller Unit 微控制器 相对于MPU更专属于某项功能的逻辑IC。MCU比MPU更加集约，广泛应用家电领域。 举个日立：SH微型计算机 DSP＝Digital Signal Processor 数字信号处理器 正如其名，它是专用于数字信号处理（声音、图像等的处理）的处理器。 可以设置在调制解调器等装置内部，也可连接电脑帮助CPU分担一部分处理工作。 ASIC ＝Application Specific Integrated Circuit 特殊用途IC，也就是根据客户要求定制的IC。 由于是定制IC，因此ASIC通常是多品种、少量生产。 ASIC 的种类分为2种类型。 USIC(User Specific IC)以特定用户以及特定用途为目的的IC。通常将USIC称为ASIC。 举个爱普生打印机中使用的IC（多处受限的IC） 门阵列 门阵列是指，事先设计好晶片基础线路的半定制IC。 有了门阵列，然后可以再根据客户要求进行定制… 具有开发周期短，即使生产量少也能控制成本等优势! ASSP(Application Specific Standard Product) 以特定用途为目的的IC 举个车载用IC以及打印机用IC 以车载IC为例，由于不受用户限制，日产车能用，丰田车也能用。 SoC测试系统 SoC测试系统的通用机型，基本上对任何一种元器件（存储芯片、逻辑芯片、模拟芯片、LCD）都能进行测试。 但是，存储器、LCD驱动器、图形传感器等特定用途的元器件，由于其内部设有专属功能系统，因此通常各自采用专用设备进行测试。  测试系统与被测试元器件之间的连接装置。通过设置在测试头的多层线路印刷基板，可以完成测试系统与元器件之间的信号交流。 将测试装置生成的波形直接外加至元器件的工具。在逻辑测试中也被称为转换HIFIX。在存储器测试中，还能代替测试接口板来使用。 多功能系统 可以测试各种逻辑元器件（少量多品种） SoC测试系统可以同时测定逻辑、存储、模拟等各种元器件。 为了应对各种需求，测试系统具备多样功能。 Per-Pin结构 存储器测试系统根据硬件结构可分为Per Site型和中央信源（shared resource）型，而SoC测试系统则采用Per-pin resource型结构。 所谓Per-pin是指，每一根Pin独立配备时序发生器等资源的结构。 中央信源型和Per-pin型的区别  虽然增加元器件的内在功能，可以提高产品的附加价值，但对其进行测试时，不得不对每根pin反复进行不同的测试。 以共享资源ATE测试机为例 由于必须设定每一根pin的时序，需要较长的处理时间。 由于共享一个时序发生器，不利于灵活应用。 与中央信源型相比，Per-pin型的优点是··· 每一根pin独立配备时序发生器，无需向每一根pin分配资源 设计者不受任何限制，可以自由地制作波形纠错时可以根据需要对特定pim进行灵活设定或变更容易与测试程序生成系统以及CAD形成链接 可以在短时间内完成编程到测试的所有步骤，有效地缩短开发周期
|
