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  • [芯片制造] 半导体Wire Bonding 工艺研究的详解; 日期:2024-05-10 18:13:00 点击:713 好评:4

    引线键合(Wire Bonding)是一种使用细金属线,利用热、压力、超声波能量为使金属引线与基板焊盘紧密焊合,实现芯片与基板间的电气互连和芯片间的信息互通。在理想控制条件下,引...

  • [芯片制造] 芯片封测|IC & MEMS分析测试技术 日期:2024-05-02 21:01:00 点击:199 好评:0

    今天来看一下IC MEMS是怎么进行分析测试的。 ​​ ​ ​ ​ ​​ ​ ​ ​ ​ ​ ​ ​ ​ ​ ​ ​ ​ ​ ​ ​ ​ ​ ​ ​​ ​ ​ ​ ​​...

  • [芯片制造] 我们来谈一谈:芯片设计到底难在哪里? 日期:2024-05-02 20:28:00 点击:248 好评:0

    芯片作为现代电子产品的核心部件,一直充当着大脑的位置,其技术含量和资金极度密集,生产线动辄数十亿上百亿美金。 芯片制造的完整过程包括:芯片设计、晶圆制造、封装、测试...

  • [芯片制造] 大牛实测对比:5种常见的1117稳压芯片性能 日期:2024-05-02 19:03:00 点击:378 好评:0

    在不同的电路板上都存在着同样的一种芯片线性稳压器,也就是LDO。 它的作用非常简单,但是又很重要,就是把外界的输入电压转换成内部其他芯片需要的电压。 这个世界上的线性稳...

  • [芯片制造] 芯片量产 | 半导体IC制造流程 日期:2024-05-01 19:57:20 点击:194 好评:0

    《半导体 IC 制造流程》详细介绍了半导体集成电路(IC)的制造过程,强调了半导体测试的重要性,以及如何通过各种测试和检验流程确保产品质量。...

  • [芯片制造] 芯片设计 | 深入了解 CPU 大架构:ARM 和 X86 日期:2024-05-01 18:17:00 点击:282 好评:0

    ...

  • [芯片制造] 芯片封装测试流程详解 日期:2024-04-26 21:41:00 点击:239 好评:4

    ...

  • [芯片制造] 从模拟到数字,全面解析IC测试的挑战与机遇 日期:2024-04-26 21:02:13 点击:374 好评:0

    Perface 集成电路芯片的测试(ICtest)分类包括: 晶圆测试(wafertest)、 芯片测试(chiptest) 封装测试(packagetest) wafertest是在晶圆从晶圆厂生产出来后 ,切割减薄之前的测试。 其设备...

  • [芯片制造] 最全面芯片测试目的、方法、分类及案例 日期:2024-04-26 19:45:04 点击:1168 好评:6

    芯片测试概述(目的、方法) 1 . 测试在芯片产业价值链上的位置 如下面这个图表,一颗芯片最终做到终端产品上,一般需要经过芯片设计、晶圆制造、晶圆测试、封装、成品测试、板...

  • [芯片制造] 如何测试一颗芯片:全面了解 DFT和ATE 日期:2024-04-25 21:07:00 点击:596 好评:0

    前段时间还记得我们一起看了OPENJTAG,后面我对那几个扫描链路比较感兴趣,于是顺便来来一起了解一下DFT吧。 一、什么是DFT? DFT(Design for Test),即可测性设计 一切为了芯片流片后测试...

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