1. Defining the Levels（电源引脚设定） 在V93000 ATE电源引脚的Level Equation设置中，有四项参数需要设定，下面对其进行详细介绍。 1. 电压控制参数和电流控制参数是两个非常重要的必须设定...

1. V93k机台 V93000，通常被称为93k机台，是一种高端的ATE（Automatic Test Equipment，自动测试设备）机台，由日本公司Advantest开发。V93000支持多种测试模式，包括数字、模拟、射频、混合信号...

芯片极限能力、封装成品及系统级测试 有关功率器件测试的文章已有 半导体器件的失效分析及可靠性测试 ， 功率器件的电特性测试 两文，本文是对其中未涉及的部分进行简单介绍，...

1引言 任何产品都有寿命，寿命的长短各不相同。为了掌握产品的寿命，对较短寿命的产品可通过使用后进行实际寿命统计的方法得到，而对于较长寿命的产品难以采用此方法，一般是...

CDM（Charged Device Model）作为一种独特的ESD（Electrostatic Discharge）模拟方式，与HBM（Human Body Model）和MM（Machine Model）有所区别。此模型专注于模拟电子设备在生产或物流环节中积累的静电...

▷ 干货分享 HTOL(High Temperature Operating Life)测试是评估集成电路（芯片）可靠性的一项关键性测试，主要通过高温激活失效机制来评估芯片寿命和长期通电运行的可靠性、稳定性。 主要的...

芯片ATE测试是指利用专业设备，对产品进行功能和性能测试，测试主要分为封装前的晶圆测试和封装完成后的芯片成品测试。晶圆测试主要是对晶片上的每个晶粒进行针测，测试其电气...

可靠性（Reliability）是对产品耐久力的测量, 我们主要典型的IC产品的生命周期可以用一条浴缸曲线（Bathtub Curve）来表示。 如上图示意, 集成电路的失效原因大致分为三个阶段： Region...

HTSL: High temperature storage life test (高温保存寿命试验) 是测定IC等产品可靠性的一种方法。 随着温度条件的不同，IC产品保持正常性能直至失效前时间的参考标准也不一样。 参考标准：M...

Preconditioning of Nonhermetic Surface Mount Devices Prior to Reliability Testing 参考标准：JESD22-A113F 一， Introduction The typical use of surface mount devices (SMD) involves subjecting the SMDs to elevated temperatures during bo...