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  • [测试基础理论] ADSL单端环路测试简述 日期:2010-09-16 15:05:57 点击:427 好评:357

    DSL作为一种基于普通电话双绞线的传输技术,对物理传输线路有很大的依赖性。环路的特征将对 DSL 服务的质量和性能级别产生决定性的影响。运营商总是希望能在接受客户申请并收费...

  • [S0C系列] 基于ADVANTest T66XX的Base Band通信类SoC测 日期:2010-09-15 13:59:18 点击:2200 好评:690

    摘要:本篇文章主要是以无线通信芯片的测试为课题来加以分析的。为了解决这个课题,在此将介绍基于ADVANTest(爱德万测试)SoC测试系统的高速高精度的任意波形发生器(WVFG)、波形数字...

  • [测试机台/ATE] IC测试机-ATE/ATS内部结构简介 日期:2010-09-14 14:03:55 点击:3149 好评:609

    ATE/ATS:自动测试设备/自动测试系统,也称测试机是测试工程师在IC测试中必须使用的工具,本文主要从技术层面对ATE/ATS的组成及软硬件及其接口要求进行了简明扼要的论述,以便测试工...

  • [测试基础理论] 大容量存储器芯片的低成本测试方案 日期:2010-09-13 15:10:24 点击:940 好评:346

    目前国内电脑内存条及配套产品、语言复读机、DVD机以及数码相机、数码录音、MP3等方面,对存储器电路需求量超过8000万只,随着各类电子产品的数码化和大容量化,对...

  • [测试基础理论] 浅谈laser trimming特点及其应用 日期:2010-09-08 20:52:03 点击:3184 好评:859

    采用先进的激光工艺,对硅上集成电路进行修调(trimming)时,不需要物理接触,可以大大减少电路上pad的数目;同时,激光修调工艺可以实现对电路中的薄膜电阻阻值高精密的调整,...

  • [模拟芯片] 通用运算放大器主要参数测试方法说明 日期:2010-08-24 11:12:56 点击:5616 好评:804

    运算放大器是模拟器件的核心,熟悉运放的特性也就掌握了模拟IC的基础,掌握了运放的测试,其余模拟IC的测试也就能够顺利清楚,所以运放在模拟IC中有着至关重要的地位,故劝各位...

  • [开发经验] 集成电路测试程序优化技术分析 日期:2010-08-15 20:54:47 点击:1373 好评:842

    冯蕊,于祥苓,周劲松 (中国电子科技集团公司第四十七研究所,沈阳ll0032) 摘要:介绍了在E 77O测试系统上对集成电路测试程序进行优化的方法。通过具体数据说明应用不同的测试方法...

  • [芯片相关原理] TVS二极管特性及应用 日期:2010-08-15 17:11:23 点击:947 好评:869

    瞬态电压抑制器(Transient Voltage Suppressor)简称TVS,是一种二极管形式的高效能保护器件。当TVS二极管的两极受到反向瞬态高能量冲击时,它能以10-12秒量级的速度, 将其两极间的高阻抗...

  • [测试基础理论] 半导体测试技术 日期:2010-08-15 15:23:02 点击:1792 好评:350

    本书详细介绍了半导体测试技术,主要针对晶圆测试技术,如PCM相关参数测试,方块电阻测试,晶圆缺陷等,另外详细讲解了测试技术,是本不错的半导体测试方面的参考书籍,非常值...

  • [芯片制造] 半导体基础知识与晶体管工艺原理之三 日期:2010-08-14 09:17:57 点击:1950 好评:521

    2-2-4光刻工艺 1光刻的目的在氧化层和金属化层上刻蚀出各种图形,以便下一步进行定域扩散或引出电极。(形成图形) 2光刻的工艺过程:(图27 ) 图27光刻的工艺过程示意 3 光刻的原...

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