[测试基础理论] IC测试原理解析(第二部分) 日期：2008-08-18 16:36:31 点击：970 好评：333
芯片测试原理讨论在芯片开发和生产过程中芯片测试的基本原理，一共分为四章，下面将要介绍的是第二章。我们在第一章介绍了芯片的基本测试原理，描述了影响芯片测试方案选择的...
[测试基础理论] IC测试原理解析(第一部分) 日期：2008-08-18 16:33:16 点击：1241 好评：341
本系列一共四章，下面是第一部分，主要讨论芯片开发和生产过程中的IC测试基本原理， 内容覆盖了基本的测试原理，影响测试决策的基本因素以及IC测试中的常用术语。 第一章 数字集...
[测试基础理论] 开短路测试简介 日期：2008-08-02 10:00:33 点击：1146 好评：537
开短路测试(openshort) 开短路测试(open_short_test)又叫continuity test 或contact test,它是一种非常快速发现芯片的各个引脚间的是否有短路，及在芯片封装时是否missing bond wires.通常都会被放测试...
[测试基础理论] ADC/DAC测试基础知识 日期：2008-07-24 10:33:36 点击：803 好评：409
Outline A/D、D/A原理与指标 A/D、D/A转换器结构综述 高速A/D转换器设计 流水线结构 高精度A/D转换器设计 Delta-Sigma结构 世界是模拟的 但我们需要数字信号处理 模拟信号处理的问题； 数字...
[测试基础理论] 清华大学芯片测试讲义 日期：2008-03-02 12:34:52 点击：99 好评：417
本资料为清华大学芯片测试培训资料，包括DFT,FAULTSIM,FUNDAMENTAILS,IDDQ, MEMORY TEST,SEQUENTIALTG,TM等，非常好的资料，值得学习参考！ 下载参考： 清华大学芯片测试讲义.part1.rar 清华大学芯片测...
[测试基础理论] ASIC测试简介 日期：2008-02-24 10:19:38 点击：1013 好评：477
目录： ------------------------------ 1、测量可重复性和可复制性(GRR) 2、电气测试可信度(ElectricalTestConfidence) 3、电气测试的限值空间(Guardband) 4、电气测试参数CPK 5、电气测试良品率模型(tes...
[测试机台/ATE] AGILENT-93K的混合信号测试解决方案 日期：2008-02-04 21:43:29 点击：2532 好评：502
1 前言 具有混合信号功能的芯片正越来越多地出现在人们的生活中。通讯领域的 MODEM、 CODEC 和飞速发展的手机芯片，视频处理器领域的MPEG、DVD芯片，带有内嵌的ADC或DAC的微控制器芯片...
[测试基础理论] 基本电子知识 日期：2008-02-02 10:24:43 点击：487 好评：424
电 流：电荷的定向移动叫做电流。电路中，电流常用I表示。电流分直流和交流两种。电流的大小和方向不随时间变化的叫做直流。电流的大小和方向随时间变化的叫做交流。电流的单...
[测试机台/ATE] STS8107测试系统测试开发注意事项及技巧 日期：2008-01-24 21:00:12 点击：1597 好评：570
（一） 应用开发注意事项 信号基本特性及应用 POWER 插座中的电源 J+5V 和 VDD 、 VSS 系统为四工位DUT板提供了J+5V和VDD、VSS电源。J+5V用于为DUT板上继电器供电；VDD、VSS的电压是15V，为DUT板...
[数字芯片] LCD Driver IC测试方法及其挑战 日期：2007-11-05 10:29:11 点击：2923 好评：683
LCD显示器件在中国已有二十多年的发展历程，已经从最初的以数字显示为主转变为以点阵字符、图形显示为主。LCD显示设备以其低电压驱动、微小功耗、能够与CMOS电路和LSI直接匹配、具...
