[测试基础理论] 基于双面印制板的EMC设计 日期：2023-03-13 15:57:10 点击：265 好评：0
从电子系统电磁兼容性角度出发，详细地叙述了双面印制电路板上的元器件的布局、供电线路和信号线信号线路的布线原则；并对双面印制板的自动布线进行讨论。 印制电路板(简称印...
[测试理论] 低温共烧陶瓷 （ LTCC） 封装 日期：2023-03-10 14:51:49 点击：1191 好评：2
低温共烧陶瓷 （ Low Temperature Co-Fired Ceramics, LTCC ） 封装能将不同种类的芯片等元器件组装集成于同一封装体内以实现系统的某些功能，是实现系统小型化、集成化、多功能化和高可靠性...
[测试理论] EMC抗干扰滤波器件介绍 日期：2023-03-10 13:33:29 点击：483 好评：0
伴随电子技术的高速发展，电磁环境日益恶化，大量的电子设备在这种电磁环境中很难正常工作。另一方面，电子设备的迅速增加，又进一步导致电磁环境的恶化。因此，现代电子产品...
[测试基础理论] 示波器介绍与使用方法 日期：2023-03-09 10:44:37 点击：640 好评：2
数据压倒一切。如果选择了正确的数据结构并把一切组织的井井有条，正确的算法就不言自明。编程的核心是数据结构，而不是算法。 Rob Pike 本文基于这样的认识：数据是易变的，逻辑...
[测试理论] MEMS芯片简介及测试 日期：2023-03-02 13:30:58 点击：1400 好评：6
MEMS是Micro-Electro-Mechanical System的缩写，微电子机械系统。MEMS传感器感知环境中的各类自然信号，按一定规律将其转换成可检测量化的信号，对所得到的信号进行分析处理和识别判断，以实现智能...
[测试基础理论] 一文搞懂IGBT的损耗与结温计算 日期：2023-03-01 15:57:08 点击：187 好评：2
与大多数功率半导体相比，IGBT 通常需要更复杂的一组计算来确定芯片温度。这是因为大多数 IGBT 都采用一体式封装，同一封装中同时包含 IGBT 和二极管芯片。为了知道每个芯片的温度...
[芯片相关原理] MOSFET结构、原理及测试 日期：2023-02-28 14:17:56 点击：1092 好评：4
LLC谐振电路是常用的拓扑，广泛应用在目前的热门应用中，本文主要从典型谐振状态来分析其基本工作过程，后续我们将逐步扩展到其它工作状态。 一 . 电路工作基本条件及电路组成...
[芯片相关原理] MOSFET的阈值电压 日期：2023-02-23 16:45:17 点击：931 好评：0
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[测试基础理论] EMC技术基础与测试、认证介绍 日期：2023-02-16 14:15:44 点击：716 好评：0
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[测试基础理论] 半导体老化测试重要性及测试方式和相关优缺点 日期：2023-02-16 10:22:53 点击：978 好评：2
老化测试的影响 在老化测试中，芯片、PCB 或半导体器件在升高的温度、电压和功率循环条件下进行测试。该测试通过强制其在监控电路下，经历各种苛刻的老化测试条件来加速设备中...
