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集成电路里的大数据 – 浅谈芯片量产测试数据的

时间:2015-09-06 22:03来源:www.ictest8.com 作者:ictest8 点击:
       

    最近几年,大数据一直是个非常热门的话题。当人们津津乐道于互联网时代海量的数据能给我们带来如何的机会和价值的时候,很多作为集成电路行业的人士却常常会忽略了自己平时工作里随时可见的那些大数据的价值:比如芯片的量产测试数据。

    熟悉芯片行业的人都会知道,几乎所有种类的芯片在出货之前,每一颗都需要经过几道的严格的测试,包括CPFT测试。而每一道测试都会产生一系列的测试结果数据。因为测试程序通常是由一系列的测试项目组成,从各个方面对芯片进行充分检测,其结果不仅仅是告诉我们每颗芯片性能是否符合标准,更是能够给出各种详细数据充分定量地反应了每颗芯片从结构、功能到电气特性的各种指标。

    当芯片出货量巨大的时候,所有这些产品的测试数据整合在一起,就能够在很大程度上反应出整个产品在设计和工艺制造上的一系列问题。这些问题很多是我们在实 验室里通过对小批量产品进行分析所无法获得的。很多产品经验积累丰富的设计公司都非常重视对实际量产数据的追踪和分析,通过对数据充分分析利用往往能够找 到产品目前在设计和生产工艺上存在的各种问题,从而帮助设计人员和工厂改善产品的性能和良率。

    可遗憾的是,很多国内的设计公司却往往忽略了这一点,或者即使意识到了量产测试数据的重要性,却也不知道从哪里入手、如何去分析这些数据。所以我们有必要在此简单讨论下,我们究竟该如何分析和利用这些测试数据:

 

    首先需要纠正的一个误区就是,很多设计公司在追踪产品测试数据时只会关心产品最终的良率,这显然是不足够的。产品的某些突发工艺问题并不一定直接反映在产品最终良率变化上,或者是不很明显。所以我们必须同时追踪各个