[测试工程] 芯片测试之ESD详解 日期：2021-05-08 13:51:00 点击：2171 好评：6
在芯片测试过程中，ESD是一项非常关键的指标来表征芯片的可靠性。ESD在生活中随处可见，但在芯片测试中，将其归于几种模型，在保证其可靠性的同时，方便测试。 ESD测试归于两个大...
[测试工程] LatchUp测试详解 日期：2021-05-07 13:28:00 点击：7238 好评：42
大家都知道IC芯片的可靠性是芯片能不能正常量产的重要指标，那么IC的可靠性都包括哪些呢？ESD（HBM，CDM），HTOL（老化测试）,HAST(封装可靠性测试),BHAST（偏压可靠性测试），当然还有...
[测试工程] 浅谈IC测试向量（pattern)及其转换 日期：2021-05-04 14:01:00 点击：3677 好评：10
随着集成电路的飞速发展，其规模越来越大，对电路的质量与可靠性要求进一步提高，集成电路的测试方法也变得越来越困难，为了实现芯片的快速测试和筛选，ATE设备为其提供了强有...
[测试工程] AEC-Q100认证流程和测试方法 日期：2020-02-12 10:55:00 点击：1126 好评：8
AEC-Q100认证流程和测试方法 通用测试 测试流程如图1:AEC-Q100认证流程 所示，测试细则如表1:AEC-Q100认证测试方法所列。并不是所有测试都适用于一切器件，例如某些测试只适用于陶瓷封装...
[可靠性测试] 元器件失效分析方法 日期：2018-05-28 10:23:19 点击：2677 好评：137
失效分析基本概念 定义：对失效电子元器件进行诊断过程。 1、进行失效分析往往需要进行电测量并采用先进的物理、冶金及化学的分析手段。 2、失效分析的目的是确定失效模式和失...
[测试优化工程] 测试不稳定怎么办 日期：2018-04-16 10:47:54 点击：10191 好评：281
最近遇到好几起测试不稳定的问题。有的是测试项单独测pass，整个flow跑就会不稳定。有的是调试时单步执行pass，测试项整体跑就fail。有的是手测pass，量产一跑就fail。这种不稳定的问...
[测试机台/ATE] 低成本、高效率8site MOSFET/IC 量产测试解决方案 日期：2017-09-27 17:55:15 点击：5414 好评：268
众所周知，近几年，国内集成电路的飞速发展，让国外友商们刮目相看，其中分立器件的发展并没有因为芯片的集成度越来越高而衰落，反而出现了越来越好的行情，究其原因在于大功...
[可靠性测试] IC产品的质量与可靠性测试 日期：2018-01-14 16:46:55 点击：4689 好评：192
质量（Quality）和可靠性（Reliability）在一定程度上可以说是IC产品的生命。质量（Quality）就是产品性能的测量，它回答了一个产品是否合乎规格（SPEC）的要求，是否符合各项性能指标的...
[开发经验] 电路板绘制经验 日期：2016-12-22 10:06:44 点击：1495 好评：128
一、印制板设计要求 1、正确 这是印制板设计最基本、最重要的要求，准确实现电原理图的连接关系，避免出现短路和断路这两个简单而致命的错误。这一基本要求在手工设计和用简单...
[优化经验] 集成电路里的大数据 – 浅谈芯片量产测试数据的 日期：2015-09-06 22:03:55 点击：4139 好评：292
最近几年，大数据一直是个非常热门的话题。当人们津津乐道于互联网时代海量的数据能给我们带来如何的机会和价值的时候，很多作为集成电路行业的人士却常常会忽略了自己平时工...
