半导体 ATE 测试常用术语汇总
时间:2026-07-23 20:04来源:二十五画生 7号站台 作者:ictest8_edit 点击:
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整理行业高频设备术语 + 电气参数术语，干货收藏必备，测试入门快速看懂专业词汇。
一、测试设备专业术语
DUT待测器件，所有测试中被检测的芯片，也可称作 UUT。
DPS器件供电电源，专门为待测芯片供给电压与电流。
PMU精密测量单元，精准测量芯片各类直流电气参数。
PPMU引脚独立测量单元，芯片每一颗引脚都配备独立测量单元。
DIB设备接口板，也常叫做负载板，连接测试机与芯片。
PIB探针专用接口板，主要应用于晶圆探针测试场景。
PDP探针台对接板，实现探针台与测试设备精准对接。
PROBE CARD探针卡，搭载精密探针的电路板，用于整片晶圆批量测试。
BINNING芯片分级筛选，依据测试结果划分等级、分拣良品与不良品。
MANIPULATOR测试头移动机构，可多角度调节测试头位置。
HANDLER自动分选机，负责封装芯片自动上下料、送入测试工位。
PROBER探针台，移动整片晶圆完成晶粒逐颗探针测试。
二、电气常用测试参数
电源类
· VCC：TTL 器件供电电压
· VDD：CMOS 器件供电电压
· VSS：电源回流负极
· GND：公共参考地电平
电流类
· ICC：TTL 芯片工作消耗电流
· IDD：CMOS 芯片工作消耗电流
· IIH：输入高电平最大灌入电流
· IIL：输入低电平最大泄漏电流
· IOH：输出高电平拉电流
· IOL：输出低电平灌电流
· IOZH：高阻态高电平最大电流
· IOZL：高阻态低电平最大电流
电平阈值类
· VIH：输入识别高电平最小电压
· VIL：输入识别低电平最大电压
· VOH：输出高电平最低标准电压
· VOL：输出低电平最高标准电压
时序参数
· Propagation Delay：信号传输延迟时间
· Rise Time：信号上升时间（10%-90%）
· Fall Time：信号下降时间（90%-10%）
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