超大规模集成电路测试：数字、存储器和混合信号系统——国外电子与通信教材系列 作 者： （美）布什内尔（Bushnell,M.L.） 等著，蒋安平 等译 出 版 社： 电子工业出版社 出版时间： 2005-8-1 印刷时间： 2005-8-1 I S B N ： 9787121014901 由于本书为PDG文件，故另附PDG文件浏览器供下载使用
本书详细介绍了超大规模集成电路的测试技术，非常值得研究、参考，主要内容如下：
有兴趣的读者可下载后仔细研读：
超大规模集成电路测试高清晰中文版（50m）
