摘要:介绍了基于ATE的集成电路的测试原理和方法，包括电气特性测试原理和功能测试原理，详细地介绍了通 用的测试方法以及一些当今流行的比较特殊的测试方法，并以一个功能较为全面而典型的具体电路为例进行了常 见的故障分析.
关键词:通用测试仪；直流/交流参数测试；功能测试；扫描

1 引言
随着 我 国集成电路产业的飞速发展，集成电路 测试和服务在产业链中的作用将越来越大.专业化 的集成电路(Ic)测试业是集成电路产业中一个重 要组成部分，从产品设计开始至完成加工全过程，提 供给客户的产品是否合格就是通过测试完成的. 在 当今 集 成电路产业中，由于专用测试仪的局 限性、非标准性以及专用测试仪开发的周期过长的 问题，使得专用测试仪的使用受到了较大的限制.而 通用测试仪(ATE)以它的通用性、标准性、便捷性 以及开放性迅速成为了集成电路测试行业的主流. ATE，即Automatic test equipment，是用来给测试 芯片提供测试模式，分析芯片对测试模式的响应来 检测芯片的测试系统.本文以ATE为基础，讨论了 集成电路测试的基本原理和测试方法，并进行了故 障分析.

2 集成电路测试总论
集成 电 路 测试主要分为三种:verificationt est, mass production test和burn-in. ver ifa ct iont est，称之为芯片验证，主要用来验 证一个新的设计在量产之前功能是否正确，参数特 性等是否符合pec以及电路的稳定性和可靠性.测 试范围包括功能测试和AC/DC测试，测试项目相 对来说比较全面.其主要目的除了调试之外还为量 产测试作准备.Verific ation的周期直接关系到产 品的质量和竞争力以及投放市场的时间.