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光阴似箭，日月如梭，转眼间，我们的第五届IC测试研讨会又要开始了~~本次的研讨会我们精心赛选了四个极具代表性的主题，分别由四位业界超资深人士详细讲解，相信会为大家带来超乎想象的收获……
时间：2015年4月18日（星期六） 13:30-17:50
地点：上海浦东新区张江高科技园区碧波路635号传奇广场3楼IC咖啡（地铁2号线张江高科站）
简要议程如下，可能会有调整：
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时 间
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报告主题
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演讲人
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13:30-14:00
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签到
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14:00-14:10
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开场致辞
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14:10-14:40
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《Device Cost Reduction》
在芯片功能日益复杂，性能日益提高的半导体飞速发展阶段，低成本的芯片将是目前价格为王的市场的永恒话题，那么今天我们就来探讨一下芯片各个环节的成本以及如何在保证质量的前提下合理cost down……
让我们来听听全球知名IC公司的资深产品人士的详细讲解，做IC的兄弟姐妹们绝对不容错过的一课！ |
业界资深IC产品人士
---高琦
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14:50-16:20
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《测试数据分析常用方法及辅助工具》
1、数据分析报告常见内容。
2、多工位测试项具体分析。
3、测试分bin分析。
4、G&R&R 分析。
5、CP测试的Mapping 分析以及复测分析。
6、不同参数之间Correlation。
7、不同LOT之间数据对比。
相当丰富的数据分析实战内容，写到这小编我都忍不住了……
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业界IC测试技术大牛
---Seaman zheng
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16:30-17:00
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《Memory Testing》
本主题将详细介绍主流的memory产品，memory 产品的主要测试参数、具体测试方法以及详细的测试流程……
相信通过本次的交流，大家对memory的测试将会有更深入的了解……
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NEOSEM.INC/Tanisys资深工程师
---杨施展
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17:00-17:30
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《High Speed ADC Testing》
1、Mixed-Signal Testing Overview
2、Test List / Key parameter
3、Limit The Analog Bandwidth
4、Flexibility of Terminations
5、Resolution VS ENOB
6、Clock Jitter effect on ENOB
7、Environmental Influences
8、Example of High Speed ADC
在IC测试界，高速ADC测试的含金量大家都很清楚，我们有幸邀请到来自半导体测试巨头的资深工程师来现场讲解ADC的测试，以及其个人的经验分享，各位兄弟姐妹有不来的理由吗？？？
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Teradyne FAE Manager---Paddy Gu
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17:30-17:50
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自由交流、合影留念
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除了技术大餐外，我们还特别准备了众多给力的奖品，在此稍微透露一下：
1、阳光普照奖：来的都是客，那能没有礼，参会者均获赠一个超赞的保温杯，让你无时无刻不缺水，哈哈……
2、幸运奖：终极版锂电无线鼠标一个：摆脱如麻乱线，无线让你效率更高……
2、三等奖：碳纤维羽毛球拍一对+羽毛球一桶+：革命尚未成功，同志们保重身体，本钱看好，多锻炼！！！
3、二等奖，一等奖，特等奖分别是……？？？？呵呵，现场再告诉你吧……
写到这，小编已无法按捺自己激动的心情，心动不如行动，赶紧报名，晚了就没名额了……
报名请将姓名，性别，职务，电话，公司，公司地址，QQ，Email等信息发送至：
邮箱：794277694@qq.com
Q Q：794277694 （添加请注明IC测试）
欢迎加入IC测试QQ群：111938408
为保证研讨质量，本次研讨会限额120人，报名截止日期4月15日，先报先得，大家抓紧噢……
本次活动仍以公益为主，场地费、茶点费大家均摊，费用￥50每人，上届参加的同学本届可以免费。
特别说明：由于本活动是以技术交流为主，故如有销售人员需要参加，费用为￥100每人，多谢理解~~
活动宗旨：
1、加强同行间技术交流
2、了解行业最新资讯
3、技术难题会诊解决
4、加强产业链资源共享
IC测试公益活动，欢迎业界爱心人士捐赠，让我们一起帮助更多的人，感谢……
爱心赞助请点击 感谢……
ictest8.com 活动小组
2015.03.18
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