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面向设计的向量转换及验证工具

时间:2013-12-10 12:34来源:www.ictest8.com 作者:ictest8 点击:

专题讲座

对于大规模数字集成电路或SOC芯片的设计而言,其功能仿真向量通常有VCD/EVCD(基于事件)、WGL/STIL/TDL(基于时序)等几种文件格式。这些文件必须借助于专用工具(软件)转换成为ATE测试向量,才能被ATE测试平台(如ADVANTEST 93000、TERADYNE J750等)识别并进行测试。

市面上不乏这样的转换软件,区别主要在于转换的效率和准确性。可即便是最好的转换软件,也无法避免人工设置复杂的时序信息所造成的逻辑错误和时序偏移(主要针对VCD格式)。遇到这种情况,往往需要资深的测试工程师和设计工程师一起,耗费大量时间和精力才能发现并调试解决。

在此,我们向大家介绍以色列TestInsight公司的两款产品,它们可以帮助用户近乎完美地解决向量转换过程中遇到的各种问题,为用户节约大量的时间和经费。

Tester Data Link
Wave Wizard的最新升级版本,其转换效率和准确性都堪称一流,是目前业界最好的设计到测试向量转换软件,拥有很高的市场占有率和用户认可度。

Virtual Tester
在流片前基于“虚拟ATE”为用户提供真实的ATE测试环境,验证转换后的测试向量能否通过ATE测试,从而发现和纠正向量转换过程中的错误。

为更好地阐述和交流以上内容,我们拟于12月17日举办“面向设计的向量转换及验证工具”专题讲座,诚挚邀请并期待您的参与。

讲座对象:芯片设计或测试从业人员、其他需要了解此类工具和服务的业内人士
讲座地点:上海市张江高科技园区碧波路635号传奇广场3楼
讲座时间:2013年12月17日(周二)晚 19:00——20:30
以色列TestInsight公司简介:

公司1999年创建至今,总部位于以色列特拉维夫,是业界最大的Design2Test工具提供商,与各家EDA和ATE厂商保持密切合作关系,更是ADVANTEST和TERADYNE唯一指定的原厂伙伴。

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