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第十二届IC测试研讨会火热报名中……

时间:2018-11-01 14:19来源:www.ictest8.com 作者:ictest8 点击:

第十二届IC测试研讨会
时间:2018年11月24日(周六) 13:30-17:30
地点:上海浦东新区张江高科技园区碧波路635号传奇广场3楼IC咖啡(地铁2号线张江高科站5号口出)

      
       
会议背景:近年来,国内IC产业发展迅猛,国家在集成电路(IC)产业也大力扶持,半导体行业在未来的10到20年内或将成为国家的支柱性型产业,从目前的全国各地大举建造半导体工厂就可见一斑,半导体的高速发展必然会推动其测试技术的发展,从分立器件到简单的模拟芯片,从低频模拟器件到混合信号芯片,再到RF,到SOC器件,这每一次的芯片发展都给测试带来了巨大的挑战,测试的挑战不仅仅在于可以满足参数的测试,更重要的在于能否精准的,高效的,低成本的把测试解决。随着芯片的复杂度越来越高,有别于ATE量产测试的失效分析测试,也逐渐引起业界的注意,目前的失效分析已经不仅仅依靠简单的X-RAY,Decap手段,还有更多的工具和手段进行更细致的分析。所以本次研讨会我们邀请了业界资深人士,针对RF器件测试,混合信号测试以及失效分析测试做一个典型的技术探讨,相信这又是一次极难得的技术提高机会,各位业界同仁千万别错过!

本期研讨会简要议程如下,具体可能会有调整:

时 间
报告主题
演讲人
13:30-14:00
签到
-
14:00-14:10
开场致辞
-
14:10-14:50
          《RF器件测试---LNA 案例详解》
        RF器件的测试,对测试工程师来说向来都是最难以捉摸的测试,单从测试参数来看就有点晦涩难懂,其用到的仪器设备也不是那么好掌握,本次我们特邀了业内模拟及射频大拿---Juning,为大家针对RF器件的测试进行一次系统的解说。主要分为两部分:
        第一部分介绍射频电路基本概念以及单位换算的导出,并举例说明RF器件测试外围模块中功分器、衰减器、放大器、定向耦合器基本功能,帮助测试工程师理解实验室测试及量产测试中可能用到的辅助模块。
        第二部分围绕网络分析仪原理,着重介绍了RF模拟器件中的基本端口及网络参数,史密斯圆图的基本概念。并以RF LNA为详细案例,解释了其具体测试的网络参数及实验室测试方案。
       让我们一起期待……
资深工程师---Juning
15:00-15:50
《MCU+PMIC芯片测试挑战和解决方案》
        近年来数模混合IC市场增长迅速,市场规模复合年增长率接近10%,特别是中国数模混合IC设计企业已逐渐形成规模。其中以MCU和PMIC为主,由于应用环境日趋复杂,对测试的要求日益提高,并且由于市场竞争激烈,对测试成本也愈发敏感。那么如何来解决这些测试问题呢?
        联动科技近期推出的更高测试精度,更多资源通道的QT8000系列测试机,将可以完美的解决这一问题,相信会让大家耳目一新:
  1. 数模混合IC市场概况
  2. 数模混合IC测试挑战
  3. MCU及PMIC的案例分享
  4. 互动环节

联动科技资深FAE    ------俉恩勋

16:00-16:50
《失效分析概述》
        失效分析在半导体行业里,是个难度系数比较高的一个技术工作,因为需要掌握大量的专业知识,才能胜任失效分析的工作,这些专业知识不仅包括芯片设计,晶圆制造,封装测试,还有终端客户的应用场景,使用环境等等,所以能够做好失效分析工作绝不是件容易的事,本次我们特别邀请------复旦大学青年副研究员,鸿之微科技创始人,董事长,泓准达科技创始人,董事长----曹荣根博士为大家揭开失效分析的面纱,让我们一起跟随曹博士去领略失效分析的魅力。
一、集成电路失效分析简介。
二、失效分析设备简介。
三、失效分析案例分享
复旦大学研究员
鸿之微科技创始人
  泓准达科技创始人           ---曹荣根
    
17:00-17:30
自由交流、合影留念
-

       本次研讨会的赞助商也是非常有爱心,为大家准备了异常丰富的礼品, 暂定的赞助商如下,同仁们多支持。



 

       特别说明:由于本活动是公益活动,以技术交流为主,故销售人员需要参加,费用为¥100每人,且限额10名,敬请理解~~


        为保证研讨质量,本次研讨会限额130人,报名截止日期11月20日,先报先得,大家抓紧……  

      报名请点击阅读原文,也可以将姓名,性别,职务,电话,公司,公司地址,QQ,Email等信息发送至:邮箱:794277694@qq.com
也可通过Q Q:794277694或微信:13816654535 报名 (添加请注明IC测试研讨会)


       读万卷书,不如行万里路,行万里路不如交友无数,此之谓:独学而无友,则孤陋而寡闻。交友无数不如与业界专家常聚,此之谓:听君一席话,胜读十年书!在这知识爆炸的年代,经常埋头苦干的同仁们,太需要出来跟业界技术大牛们交流交流了,来吧来吧,一起分享这份技术大餐,本届IC测试研讨会绝不让你虚行!

如下为前几届的活动详情,可以先感受一下:

1第十一届IC测试研讨会详情    第十一届现场报道
1第十届IC测试研讨会详情       第十届现场报道

2、第九届IC测试研讨会详情       第九届现场报道
3第八届IC测试研讨会详情       第八届现场报道
4第七届IC测试研讨会详情       第七届现场报道
5第六届IC测试研讨会详情       第六届现场报道
6第五届IC测试研讨会详情       第五届现场报道
7第四届IC测试研讨会详情       第四届现场报道
8、第三届IC测试研讨会详情       第三届现场报道


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ictest8.com 活动小组

2018.11.1

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