[测试机台/ATE] TR6850测试系统介绍 日期：2012-05-21 20:43:06 点击：3186 好评：681
TR6850测试系统介绍 TR-6850测试系统是针对电源管理和混合信号的集成电路测试所特别设计。 最多可达256个数字通道，测试速度33MHz,8M的pattern深度。 专属运放电路测试模组。 16位元任意波...
[探针台/probe] T2 Internal Engineer Prober basic training manual 日期：2012-05-21 19:41:27 点击：1148 好评：623
另外，由于篇幅较大，本站推出如下详细资料，敬请下载参考！ T2 Internal Engineer Prober basic training manual...
[探针台/probe] UF200 probe技术资料 日期：2012-05-21 19:38:29 点击：4482 好评：702
- CONTENTS - 1 Introduction.................................................................................... 1 2 Features ........................................................................................ 2 3 Main Units ..............
[测试机台/ATE] JUNO DTS1000测试系统介绍 日期：2012-04-27 14:19:00 点击：4724 好评：602
JUNO DTS-1000 测试系统说明书 2 目录 1 测试项目表（精度及范围） 1.0 通用项目 1.1 晶体管 1.2 FET 1.3 二极管 1.3.1 L.E.D 1.4 三端稳压器 1.4.1 Shut Regulator 1.4.2 Voltage Regulator 1.4.3 Low Drop Low Noise V...
[测试基础理论] 关于wafer测试的一些知识 日期：2012-04-16 21:28:42 点击：4029 好评：507
每颗IC在后工序之前都必须进行CP（Chip Prober），以验证产品的功能是否正常，并挑出不良的产品和区分性能等级。 CP主要设备包括测试机（Tester）和探针台（Prober）。 测试机 主要包括...
[测试机台/ATE] TR6800案例资料 日期：2012-04-14 20:47:22 点击：1643 好评：626
Single site double volt,curr; int CL_Time; #define VERROR 0.003 #define VERRORH 0.005 #define CLAMP_VERROR 0.03 #define IERROR 0.003 #define IERRORH 0.004 #define CLAMP_IERROR 0.03 #define RLY_STON 0.005 #define RLY_STOFF 0.001 #define ON 1...
[探针台/probe] UF3000 Set Up Device 簡易操作及相关资料 日期：2012-01-26 19:33:24 点击：3627 好评：615
1-1 開機畫面如下: 此畫面為power on時第一段開機程序. 可在此畫面做一些 configuration data 的設定. 是適用於工程人員使用的. 一般來說操做人員只須按下START 將 Prober 做 Initialize 的動做既可...
[测试机台/ATE] TR6800测试系统资料 日期：2011-11-06 20:38:44 点击：1907 好评：659
TRIs TR6800 IC tester is specially designed for testing Power Management ICs. It is ideal for testing regulators, detectors, resets, switches, HCS and TMU modules for DC parameter measurement, AC32 and AC64 modules for functional pattern te...
[测试机台/ATE] 一种钽电容自动测试系统的介绍 日期：2010-09-17 20:17:31 点击：928 好评：864
钽电容器是一种较新型的电解电容器，自从五十年代问世以来，即以其优异的性能，如体积小、单位体积电容大(是铝电解的3倍)，漏电流少(钽电解要比铝电解小一级数量级)，工作温度...
[测试机台/ATE] 一种数字集成电路测试系统的设计 日期：2010-09-17 11:52:21 点击：785 好评：674
摘要:介绍了一种数字集成电路测试系统的工作原理、组成。提出了系统的软硬件设计方案。该系统基于自定义总线结构，可测试电平范围宽。 关键词:数字集成电路 测试功能 测试通道...
