[探针台/probe] Procedure to Create UF200 New Device 日期：2014-08-19 20:52:31 点击：1397 好评：391
1) Creating the device parameter Create each set up elements such as device name, wafer size, XY indexing size, OF direction, chuck temperature, multi measuring and needle height of the card. 2) Setting of operation parameter Set up needle p...
[探针卡/probe card] 测试探针 日期：2014-06-06 16:04:01 点击：3117 好评：276
测试探针...
[测试元器件] 电磁继电器的参数检测和触点接触可靠性 日期：2014-05-24 20:49:15 点击：1706 好评：291
电磁继电器的参数检测和触点接触可靠性 北京华峰测控技公司 孙 铣 付卫东 摘要 本文介绍了国产电磁继电器的基本质量状态，论述了静态接触电阻参数和时间参数的检测方法，并通过...
[测试机台/ATE] 利用测时仪测量交流信号的直流偏移 日期：2014-05-22 23:30:31 点击：1158 好评：280
关键字：测时仪 交流信号 直流偏移 在如今的半导体领域，要确定集成电路器件的功能性是否满足要求，往往需要对其进行多种电测试。其中一项就是测量器件的时序，这时必须用到测...
[测试机台/ATE] 集成电路IC测试机简介 日期：2013-04-20 11:43:36 点击：4374 好评：794
集成电路测试机的种类，若依照其测试功能一般可区分为Logic测试机，Memory测试机及Mixed-signal测试机三大类。其中Logic测试机应用于一般消费性IC，如Voice，MCU IC等测试使用，Memory测试机...
[测试机台/ATE] ASL1000测试系统资料 日期：2012-10-16 20:20:31 点击：7931 好评：602
随着半导体行业的快速发展,对于测试集成电路电参数的精度和速度的要求也越来越高,测试设备和方法的改进日显迫切,自动测试系统的出现可以满足集成电路的各种测试需求。ASL1000TM是...
[测试机台/ATE] TR6850测试系统介绍 日期：2012-05-21 20:43:06 点击：3464 好评：681
TR6850测试系统介绍 TR-6850测试系统是针对电源管理和混合信号的集成电路测试所特别设计。 最多可达256个数字通道，测试速度33MHz,8M的pattern深度。 专属运放电路测试模组。 16位元任意波...
[探针台/probe] T2 Internal Engineer Prober basic training manual 日期：2012-05-21 19:41:27 点击：1338 好评：623
另外，由于篇幅较大，本站推出如下详细资料，敬请下载参考！ T2 Internal Engineer Prober basic training manual...
[探针台/probe] UF200 probe技术资料 日期：2012-05-21 19:38:29 点击：5034 好评：702
- CONTENTS - 1 Introduction.................................................................................... 1 2 Features ........................................................................................ 2 3 Main Units ..............
[测试机台/ATE] JUNO DTS1000测试系统介绍 日期：2012-04-27 14:19:00 点击：5074 好评：602
JUNO DTS-1000 测试系统说明书 2 目录 1 测试项目表（精度及范围） 1.0 通用项目 1.1 晶体管 1.2 FET 1.3 二极管 1.3.1 L.E.D 1.4 三端稳压器 1.4.1 Shut Regulator 1.4.2 Voltage Regulator 1.4.3 Low Drop Low Noise V...
