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泰瑞达FLEX测试系统培训资料

2010-02-04 转载请注明出处 http://www.ictest8.com

　　泰瑞达（Teradyne）是全球最大的半导体自动测试设备供应商，也是连接系统和用于汽车行业的测试设备的领先供应商。泰瑞达为广泛的半导体电路提供测试解决方案，覆盖模拟、混合信号、存储器及VLSI器件测试所有领域的测试设备的供应商，测试平台包括 J971、J973、 Integra J750、 IP750、 Catalyst、 Integra FLEX、及Catalyst Tiger，测试产品覆盖半导体芯片如处理器、微控制器、客户特殊逻辑、记忆体、混合讯号IC、及System-on-Chip。

　　继前期推出的J750培训资料之后，本站再次重磅推出FLEX培训课程，供大家免费下载学习。

　　以下是其FLEX的具体培训资料，分3天课程，本站将逐一推出：

·System Overview

24 Universal slots
– 50 Mbyte/s bus per slot
(Instrument-initiated Move
via the Move Bus)
– Pipelined capture/
move/processing
– Control of Instruments
with Pattern file
　IG-XL Programming
– User-friendly interface
– Complete SOC
programming suite
　High-density/single-board
instrumentation
– Patgen on every board
– Universal channel/DIB
Access
– Waveform-capable DC
– Parallel DC metering and
multiple DC Time
instruments

·Day 1

Day 1
– A New Paradigm?
– Live Action Demonstration
– Creating a Test Program
– Hardware Overview
– Introduction to IG-XL
– Load / Run Test Program
– Test Program Structure
– Datalog Setups
– Test Debug Environment

·Day 2

– Patterns
– Time Sets
– More Debug Tools
– Visual Basic for Test
– Characterization
– DCVI

·Day 3

– Mixed Signal Test Introduction
– DSP Example
– Debugging DSP in VBT
– BBAC Introduced
– BBAC Test Elements
– BBAC Debug Displays

具体请下载参考：

Teradyne_FLEX培训资料

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泰瑞达（Teradyne）是全球最大的半导体自动测试设备供应商，也是连接系统和用于汽车行业的测试设备的领先供应商。泰瑞达为广泛的半导体电路提供测试解决方案，覆盖模拟、混合信号、存储器及VLSI器件测试所有领域的测试设备的供应商，测试平台包括 J971、J973、 Integra J750、 IP750、 Catalyst、 Integra FLEX、及Catalyst Tiger，测试产品覆盖半导体芯片如处理器、微控制器、客户特殊逻辑、记忆体、混合讯号IC、及System-on-Chip。　　继前期推出的J750培训资料之后，本站再次重磅推出FLEX培训课程，供大家免费下载学习。　　以下是其FLEX的具体培训资料，分3天课程，本站将逐一推出： ·System Overview 24 Universal slots – 50 Mbyte/s bus per slot (Instrument-initiated Move via the Move Bus) – Pipelined capture/ move/processing – Control of Instruments with Pattern file 　IG-XL Programming – User-friendly interface – Complete SOC programming suite 　High-density/single-board instrumentation – Patgen on every board – Universal channel/DIB Access – Waveform-capable DC – Parallel DC metering and multiple DC Time instruments ·Day 1 Day 1 – A New Paradigm? – Live Action Demonstration – Creating a Test Program – Hardware Overview – Introduction to IG-XL – Load / Run Test Program – Test Program Structure – Datalog Setups – Test Debug Environment ·Day 2 – Patterns – Time Sets – More Debug Tools – Visual Basic for Test – Characterization – DCVI · ·Day 3 – Mixed Signal Test Introduction – DSP Example – Debugging DSP in VBT – BBAC Introduced – BBAC Test Elements – BBAC Debug Displays 具体请下载参考： Teradyne_FLEX培训资料
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