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  1. LDO测试实例

  2. 音频功放测试实例

  3. 基于ASL1000的开关电源测试实例

  4. 基于J750的超大规模集成电路测试实例

  5. Testing CD74HC354 Multiplexer by the Teradyne J750 Tester

  6. Test AD7880(ADC) by the Teradyne FLEX Tester

　　 

 
测试实例

 

  1. 通用运算放大器主要参数测试方法说明

  2. 基于自动测试系统的ADC测试开发

  3. Testing CD74HC354 Multiplexer by the Teradyne J750 Tester

  4. 基于IP 核的SOC 中ADC 的测试技术

  5. Test AD7880(ADC) by the Teradyne FLEX Tester

  6. LDO测试实例

  7. 音频功放测试实例

  8. LCD driver IC测试

  9. 蓝牙收发器IC测试

  10. 基于ASL1000的开关电源测试实例

  11. 基于J750的超大规模集成电路测试实例

  12. 一款5通道DVD马达驱动芯片（包括wafer及FT测试）的测试实例

  13. I2C总线应用下的EEPROM测试

  14. 5Gbps高速芯片测试技术

  15. 海尔爱国者Hi2010MPEG-2信源解码芯片的测试解决方案

  16. 通信类SoC－Base Band测试方案

　　 

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