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  1. CSP量产测试问题及解决办法

  2. 有关芯片trim之poly fuse和metal fuse问题

  3. 浅谈基于ATE的IC测试精确度及稳定性问题<一>

  4. IC中测各参数及功能测试的技巧

  5. 测试程序及测试板开发注意事项

　　 

 
经验分享

 

  1. ADC静态参数INL DNL的定义及其测试方法

  2. 浅谈laser trimming特点及其应用

  3. 集成电路测试程序优化技术分析

  4. wafer Yield 的分析及提高

  5. RF类IC demo 板loadboard设计参考资料之电源部分

  6. RF类IC demo 板loadboard设计参考资料之时钟部分

  7. RF类IC demo 板loadboard设计参考资料之阻抗匹配部分

  8. 浅谈基于ATE的IC测试精确度及稳定性问题<一>

  9. IC中测各参数及功能测试的技巧

  10. 测试程序及测试板开发注意事项

  11. 浅谈测试方案（test plan）的建立过程

  12. 一些简单的测试技巧

  13. 高电压的测量方法

  14. CSP量产测试问题及解决办法

  15. 有关芯片trim之poly fuse和metal fuse问题

  16. 验证工程师能帮上测试的忙

　　 

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